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半導体の電極 | (カテゴリ:デバイスプロセス ) | |
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半導体等の試験・測定 | (カテゴリ:電子デバイス ) | |
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ＬＯＣＯＳ | (カテゴリ:デバイスプロセス ) | ＦＩ化（Ｒ２） |
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半導体又は固体装置の封緘，被覆構造と材料 | (カテゴリ:電子デバイス ) | |
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圧力センサ | (カテゴリ:電子デバイス ) | |
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超電導ディバイスとその製造方法 | (カテゴリ:電子デバイス ) | ４Ｍ１１５と統合（Ｈ１５） |
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超電導用冷却・容器・薄膜 | (カテゴリ:電子デバイス ) | |
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超電導一般 | (カテゴリ:電子デバイス ) | ４Ｍ１１３へ統合（Ｈ１５） |
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固体撮像素子 | (カテゴリ:電子デバイス ) | |
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ＭＲＡＭ・スピンメモリ技術 | (カテゴリ:電子デバイス ) | 旧５Ｆ０８３テーマ分割、リスト再作成（Ｈ１７） |