FIメイングループ/ファセット選択

  • H01L21/00
  • 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に適用される方法または装置(グループ31/00~49/00に分類されている装置またはその部品に製造または処理に特有な方法または装置はこれらのグループを参照;他のサブクラスに包有されている単一工程からなる方法は関連したサブクラス,例.C23C,C30Bを参照;表面に表面構造または模様を作成する写真製版,そのための材料または原稿,そのため特に適合した装置一般G03F) HB CC 5F117
  • H01L23/00
  • 半導体または他の固体装置の細部(25/00が優先;半導体本体の細部または29/00に分類されている装置の電極の細部はそこに分類する;31/00~49/00の一つのメイングループに分類されている装置に特有なデータはそこに分類する) HB CC 5F065
  • H01L25/00
  • 複数の個々の半導体または他の固体装置からなる組立体,例.ソーラ・パネル(1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置27/00;ソーラ・セルまたはソーラ・パネルを用いる発電装置H02N6/00;他のサブクラスに分類される完全回路組立体の細部,例.テレビジョン受信機の細部,は関連するサブクラス,例.H04N,を参照;電気部品の組立体の細部一般H05K)[2] HB CC 5F037
  • H01L27/00
  • 1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置(その細部H01L23/00,H01L29/00~H01L33/00,H10K,H10N;複数の個々の固体装置からなる組立体H01L25/00)[2006.01] HB CC 5F081
  • H01L29/00
  • 整流,増幅,発振またはスイッチングに特に適用される半導体装置であり,電位障壁を有するもの;電位障壁,例.PN接合空乏層またはキャリア集中層,を有するコンデンサまたは抵抗器;半導体本体または電極の細部(H01L31/00~H01L33/00,H10K10/00,H10Nが優先;半導体本体または電極以外の細部H01L23/00;1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品からなる装置H01L27/00[2006.01] HB CC 5F039
  • H01L31/00
  • 赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部(H10K30/00が優先;1つ以上の電気光源を有する輻射線感応構成部品の組合せ以外で,1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品から成る装置H01L27/00) HB CC 5F149
  • H01L33/00
  • 光の放出に特に適用される電位障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部(H10K50/00が優先;1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品からなる装置で,光の放出に特に適用される電位障壁を有する半導体装置を含むものH01L27/15;半導体レーザH01S5/00)[2010.01] HB CC 5F241
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