FI(一覧表示)

  • H01L27/00
  • 1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置(その細部H01L23/00,H01L29/00~H01L33/00,H10K,H10N;複数の個々の固体装置からなる組立体H01L25/00)[2006.01] HB CC 5F081
  • H01L27/00,301
  • ・三次元回路素子 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@A
  • 素子配置に特徴のある積層型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@C
  • ・接続構造 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@H
  • ・放熱構造;シールド構造 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@R
  • ・再結晶化技術 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@N
  • ・半導体i層介在型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@D
  • ・単結晶絶縁体層介在型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@E
  • ・単結晶直接成長技術 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@S
  • ・SIMOX HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@L
  • ・まわり込み酸化 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@F
  • ・FIPOS HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@P
  • ・ポリアモルファス積層型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@Y
  • ・その他の構造 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@B
  • 接着型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@W
  • 両面型 HB CC 5F080
  • H01L27/00,301@Z
  • その他 HB CC 5F080
  • H01L27/01
  • ・1つの共通絶縁基板上に形成された薄膜または厚膜受動素子のみからなるもの[3] HB CC 5F081
  • H01L27/01,301
  • ・・厚膜回路 HB CC 5F081
  • H01L27/01,311
  • ・・薄膜回路 HB CC 5F081
  • H01L27/01,321
  • ・・厚膜トリミング;薄膜トリミング HB CC 5F081
  • H01L27/02
  • ・整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,電位障壁を有するもの;電位障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの[2006.01] HB CC 5F081
  • H01L27/04
  • ・・基板が半導体本体であるもの[2] HB CC 5F038
  • H01L27/04@A
  • 基板上の素子配置 HB CC 5F038
  • H01L27/04@B
  • 基準電圧発生回路 HB CC 5F038
  • H01L27/04@C
  • 容量素子 HB CC 5F038
  • H01L27/04@D
  • 配線 HB CC 5F038
  • H01L27/04@E
  • 端子の機能または配置 HB CC 5F038
  • H01L27/04@F
  • 機能;動作 HB CC 5F038
  • H01L27/04@G
  • 基板バイアス発生;昇圧 HB CC 5F038
  • H01L27/04@H
  • 保護 HB CC 5F038
  • H01L27/04@L
  • 誘導素子;インダクタンス発生回路 HB CC 5F038
  • H01L27/04@M
  • 機能切換 HB CC 5F038
  • H01L27/04@P
  • 薄膜抵抗 HB CC 5F038
  • H01L27/04@R
  • 拡散抵抗 HB CC 5F038
  • H01L27/04@T
  • テスト回路;検査回路 HB CC 5F038
  • H01L27/04@U
  • 機能ブロック組合せ,例.システムLSI HB CC 5F038
  • H01L27/04@V
  • 可変インピーダンス;トリミング HB CC 5F038
  • H01L27/04@Z
  • その他のもの HB CC 5F038
  • H01L27/06
  • ・・・複数の個々の構成部品を反復しない形で含むもの[2] HB CC 5F082
  • H01L27/06@F
  • MOSを除くFETを主体とする集積回路 HB CC 5F082
  • H01L27/06@T
  • サイリスタを主体とする集積回路 HB CC 5F082
  • H01L27/06@Z
  • その他 HB CC 5F082
  • H01L27/06,101
  • ・・・・バイポーラ素子を主体とする集積回路 HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@B
  • バイポーラトランジスタからなるもの HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@U
  • バイポーラトランジスタとユニポーラトランジスタからなるもの HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@S
  • バイポーラトランジスタとSITからなる論理回路 HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@D
  • バイポーラトランジスタと誘導素子,容量,抵抗またはダイオードからなるもの HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@P
  • 保護回路 HB CC 5F082
  • H01L27/06,101@Z
  • その他 HB CC 5F082
  • H01L27/06,102
  • ・・・・MOS素子を主体とする集積回路 HB CC 5F048
  • H01L27/06,102@A
  • MOSと,受動素子またはダイオードを集積したもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,102@Z
  • その他 HB CC 5F048
  • H01L27/06,311
  • ・・・・・保護回路 HB CC 5F048
  • H01L27/06,311@A
  • 抵抗を用いて保護したもの;コンタクト部に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,311@B
  • ダイオードを用いて保護したもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,311@C
  • バイポーラを含むMOS構造を用いて保護したもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,311@Z
  • その他 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321
  • ・・・・バイMOSを主体とする集積回路 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@A
  • 全体に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@B
  • バイポーラトランジスタの構成に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@C
  • 素子分離 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@D
  • ラッチアップ防止 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@E
  • 基板;ウェル;埋込み層 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@F
  • コンタクト;電極;配線 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@G
  • 回路構成に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@H
  • ・バイMOS複合機能素子 HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@J
  • ・特定用途用,例.論理回路またはメモリ HB CC 5F048
  • H01L27/06,321@Z
  • その他 HB CC 5F048
  • H01L27/06,331
  • ・・・・基板バイアス回路 HB CC 5F048
  • H01L27/07
  • ・・・・構成部品が共通の活性領域をもつもの[5] HB CC 5F082
  • H01L27/07,101
  • ・・・・・バイポーラトランジスタを含む集積回路(H01L27/07,102が優先) HB CC 5F082
  • H01L27/07,102
  • ・・・・・MOSを含む集積回路 HB CC 5F048
  • H01L27/08
  • ・・・1種類の半導体構成部品だけを含むもの[2] HB CC 5F082
  • H01L27/082
  • ・・・・バイポーラ構成部品のみを含むもの[5] HB CC 5F082
  • H01L27/082@B
  • バイポーラトランジスタからなるもの HB CC 5F082
  • H01L27/082@L
  • バイポーラトランジスタからなる論理回路 HB CC 5F082
  • H01L27/082@M
  • ・IIL HB CC 5F082
  • H01L27/082@J
  • ・・インジェクタ HB CC 5F082
  • H01L27/082@N
  • ・・インバータ HB CC 5F082
  • H01L27/082@W
  • ・・IILを含む回路 HB CC 5F082
  • H01L27/082@T
  • 特性が異なるバイポーラトランジスタからなるもの HB CC 5F082
  • H01L27/082@C
  • NPN型とPNP型の組み合わせ HB CC 5F082
  • H01L27/082@V
  • 縦型と横型の組み合わせ HB CC 5F082
  • H01L27/082@D
  • ダーリントン接続 HB CC 5F082
  • H01L27/082@Z
  • その他 HB CC 5F082
  • H01L27/085
  • ・・・・電界効果構成部品のみを含むもの[5] HB CC 5F048
  • H01L27/088
  • ・・・・・構成部品が絶縁ゲートを有する電界効果トランジスタであるもの[5] HB CC 5F048
  • H01L27/088@A
  • MOS構造全体に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/088@B
  • チャネル構造またはソースドレイン形成 HB CC 5F048
  • H01L27/088@C
  • ゲート電極またはゲート絶縁膜 HB CC 5F048
  • H01L27/088@D
  • コンタクト;電極;配線 HB CC 5F048
  • H01L27/088@E
  • 積層型MOS;縦型MOS HB CC 5F048
  • H01L27/088@F
  • MOSICに対する保護回路 HB CC 5F048
  • H01L27/088@H
  • メモリ;論理回路 HB CC 5F048
  • H01L27/088@J
  • 回路構成に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/088@Z
  • その他のもの HB CC 5F048
  • H01L27/088,311
  • ・・・・・・E―DMOS;E―EMOS HB CC 5F048
  • H01L27/088,311@A
  • 全体に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/088,311@Z
  • その他 HB CC 5F048
  • H01L27/088,331
  • ・・・・・・寄生効果防止,例.素子分離 HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@A
  • 絶縁分離 HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@B
  • チャンネルストッパー;ガードリング HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@C
  • 基板;埋込み層 HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@D
  • ウェル HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@E
  • SOS;SOI HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@F
  • ダイオードまたは抵抗を用いたもの HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@G
  • バイアスを与えたもの HB CC 5F048
  • H01L27/088,331@Z
  • その他のもの HB CC 5F048
  • H01L27/092
  • ・・・・・・相補型MIS電界効果トランジスタ[5] HB CC 5F048
  • H01L27/092@A
  • CMOS全体に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/092@B
  • ウェル;基板;埋込み層 HB CC 5F048
  • H01L27/092@C
  • チャネル構造 HB CC 5F048
  • H01L27/092@D
  • ゲート電極またはゲート絶縁膜 HB CC 5F048
  • H01L27/092@E
  • ソースドレイン形成 HB CC 5F048
  • H01L27/092@F
  • コンタクト;電極;配線 HB CC 5F048
  • H01L27/092@G
  • 積層型MOS;縦型MOS HB CC 5F048
  • H01L27/092@H
  • CMOSに対する保護回路 HB CC 5F048
  • H01L27/092@K
  • メモリ;論理回路 HB CC 5F048
  • H01L27/092@L
  • 回路構成に特徴のあるもの HB CC 5F048
  • H01L27/092@N
  • 製造工程の簡略化 HB CC 5F048
  • H01L27/092@Z
  • その他のもの HB CC 5F048
  • H01L27/095
  • ・・・・・構成部品がショットキー障壁ゲート電界効果トランジスタであるもの[5] HB CC 5F082
  • H01L27/098
  • ・・・・・構成部品がPN接合ゲート電界効果トランジスタであるもの[5] HB CC 5F082
  • H01L27/10
  • ・・・複数の個々の構成部品を反復した形で含むもの[2] HB CC 5F083
  • H01L27/102
  • ・・・・バイポーラ構成部品を含むもの[2023.01] HB CC 5F083
  • H01L27/105
  • ・・・・電界効果構成部品を含むもの[2023.01] HB CC 5F083
  • H01L27/118
  • ・・・・マスタースライス集積回路[5] HB CC 5F048
  • H01L27/118,101
  • ・・・・・バイポーラトランジスタを含む集積回路;FETを含む集積回路(H01L27/118,102が優先) HB CC 5F082
  • H01L27/118,102
  • ・・・・・MOSを含む集積回路 HB CC 5F048
  • H01L27/12
  • ・・基板が半導体本体以外のもの,例.絶縁体本体[2] HB CC 5F084
  • H01L27/12@A
  • アクティブマトリックス HB CC 5F084
  • H01L27/12@B
  • 接着型SOI HB CC 5F084
  • H01L27/12@C
  • 接続;配線 HB CC 5F084
  • H01L27/12@D
  • 単結晶絶縁膜 HB CC 5F084
  • H01L27/12@E
  • エピタキシャル型;インプラ絶縁膜形成 HB CC 5F084
  • H01L27/12@F
  • 素子分離;領域分離 HB CC 5F084
  • H01L27/12@G
  • 半絶縁型,例.GaAs HB CC 5F084
  • H01L27/12@H
  • 多結晶支持体 HB CC 5F084
  • H01L27/12@K
  • 保護回路 HB CC 5F084
  • H01L27/12@L
  • 配置;レイアウト HB CC 5F084
  • H01L27/12@P
  • 多結晶能動層;アモルファス層 HB CC 5F084
  • H01L27/12@Q
  • 超格子 HB CC 5F084
  • H01L27/12@R
  • 再結晶 HB CC 5F084
  • H01L27/12@S
  • SOS HB CC 5F084
  • H01L27/12@T
  • テスト;検査 HB CC 5F084
  • H01L27/12@Z
  • その他のもの HB CC 5F084
  • H01L27/13
  • ・・・薄膜または厚膜受動構成部品と組合せたもの[3] HB CC 5F081
  • H01L27/14
  • ・赤外線,可視光,短波長の電磁波または粒子線輻射に感応する半導体構成部品で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御するかのどちらかに特に適用されるもの(構造的に1つまたはそれ以上の電気光源のみに関連する輻射線感応構成部品H01L31/14;光電気素子と光ガイドとの結合G02B6/42)[2] HB CC 4M118
  • H01L27/142
  • ・・エネルギー変換装置(装置と一体化または直接結合したバイパスダイオードを備える光起電[PV]モジュールまたは1つ1つのPV素子のアレイH01L31/0443;同じ基板上に堆積された複数の薄膜太陽電池により構成されたPVモジュールH01L31/046)[5,2014.01] HB CC 4M118
  • H01L27/144
  • ・・輻射線によって制御される装置[5] HB CC 4M118
  • H01L27/144@K
  • 特殊用途用固体撮像素子;特定用途用受光素子 HB CC 4M118
  • H01L27/144@J
  • ・光通信用受光素子 HB CC 4M118
  • H01L27/144@Z
  • その他のもの HB CC 4M118
  • H01L27/146
  • ・・・固体撮像装置構造[5] HB CC 4M118
  • H01L27/146@A
  • プレナ固体撮像素子,例.MOS型,FET型,SIT型またはCPD型 HB CC 4M118
  • H01L27/146@G
  • ・電荷注入デバイス[CID]型 HB CC 4M118
  • H01L27/146@F
  • ・ハイブリッド固体撮像素子 HB CC 4M118
  • H01L27/146@E
  • ・・光導電層積層型 HB CC 4M118
  • H01L27/146@C
  • 薄膜固体撮像素子 HB CC 4M118
  • H01L27/146@D
  • パッケージ;フィルタ;チップ;表面層 HB CC 4M118
  • H01L27/146@Z
  • その他のもの HB CC 4M118
  • H01L27/148
  • ・・・・電荷結合型固体撮像装置[5] HB CC 4M118
  • H01L27/148@B
  • CCD型,例.FT方式,IL方式,LA方式,CS方式,クロスゲート方式または一次元用 HB CC 4M118
  • H01L27/148@H
  • ・時間遅延積分[TDI]型 HB CC 4M118
  • H01L27/148@Z
  • その他のもの HB CC 4M118
  • H01L27/15
  • ・電位障壁を有し,光放出に特に適用される半導体構成部品を含むもの[2006.01] HB CC 5F097
  • H01L27/15@A
  • 他の素子との集積に特徴 HB CC 5F097
  • H01L27/15@B
  • ・駆動素子または光変調素子との集積 HB CC 5F097
  • H01L27/15@C
  • ・放出光の導波手段,例.光導波路または光スイッチング素子,との集積 HB CC 5F097
  • H01L27/15@D
  • ・受光素子との集積 HB CC 5F097
  • H01L27/15@T
  • 3次元光集積回路 HB CC 5F097
  • H01L27/15@S
  • 光信号回路 HB CC 5F097
  • H01L27/15@H
  • ハイブリッド装置;実装 HB CC 5F097
  • H01L27/15@Z
  • その他のもの HB CC 5F097
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