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HB:ハンドブック | ||||
CC:コンコーダンス |
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半導体層のみを備える半導体基板内または上,例.Siウェーハ上またはSiウェーハ上のGaAs上,に形成される集積装置[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・製造または処理[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・・材料に基づく技術を用いることに特徴のあるもの[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・・・IV族技術を用いるもの,例.Si技術またはSiC技術[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・・・IIIーV族技術を用いるもの[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・・・IIーVI族技術を用いるもの[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・・・複数の技術の組み合わせを用いるもの,例.Si技術とSiC技術の両方を用いるもの,またはSi技術とIIIーV族技術を用いるもの[2025.01] | HB | CC | 5F081 | |
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・グループH10D12/00またはH10D30/00に包含される少なくとも1つの構成部品と,グループH10D10/00またはH10D18/00に包含される少なくとも1つの構成部品との集積に特徴のあるもの,例.バイポーラトランジスタと絶縁ゲート電界効果トランジスタの集積[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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全体,例.複数素子の配置または製法,に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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バイポーラトランジスタの構成に特徴のあるもの(C~Jが優先) | HB | CC | 5F048 | |
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素子分離 | HB | CC | 5F048 | |
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ラッチアップ防止 | HB | CC | 5F048 | |
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基板;ウェル;埋込み層 | HB | CC | 5F048 | |
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コンタクト;電極;配線 | HB | CC | 5F048 | |
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回路構成に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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・バイMOS複合機能素子 | HB | CC | 5F048 | |
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・特定用途用,例.論理回路,メモリ | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・グループH10D10/00またはH10D18/00に包含される少なくとも1つの構成部品の集積に特徴のあるもの,例.バイポーラトランジスタの集積(H10D84/40が優先)[2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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・・サイリスタを集積するもの | HB | CC | 5F082 | |
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・・バイポーラトランジスタと他の素子を集積するもの | HB | CC | 5F082 | |
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バイポーラトランジスタとユニポーラトランジスタからなるもの | HB | CC | 5F082 | |
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バイポーラトランジスタとSITからなる論理回路 | HB | CC | 5F082 | |
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バイポーラトランジスタとインダクタ,キャパシタ,抵抗またはダイオードからなるもの | HB | CC | 5F082 | |
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保護回路 | HB | CC | 5F082 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F082 | |
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・・バイポーラトランジスタのみを集積するもの | HB | CC | 5F082 | |
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バイポーラトランジスタからなるもの(L~Dが優先) | HB | CC | 5F082 | |
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バイポーラトランジスタからなる論理回路 | HB | CC | 5F082 | |
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特性が異なるバイポーラトランジスタからなるもの | HB | CC | 5F082 | |
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ダーリントン接続 | HB | CC | 5F082 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F082 | |
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・・縦型バイポーラトランジスタと横型バイポーラトランジスタとの組み合わせ[2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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・・集積注入論理[IIL][2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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インジェクタ | HB | CC | 5F082 | |
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インバータ | HB | CC | 5F082 | |
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IILを含む回路 | HB | CC | 5F082 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F082 | |
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・・相補型バイポーラトランジスタ[2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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・グループH10D12/00またはH10D30/00に包含される少なくとも1つの構成部品の集積に特徴のあるもの,例.絶縁ゲート電界効果トランジスタの集積(H10D84/40が優先)[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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・・絶縁ゲート電界効果トランジスタと他の素子を集積するもの | HB | CC | 5F048 | |
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絶縁ゲート電界効果トランジスタと,受動素子またはダイオードを集積するもの | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・・保護回路 | HB | CC | 5F048 | |
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抵抗を用いて保護したもの,コンタクト部に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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ダイオードを用いて保護したもの | HB | CC | 5F048 | |
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バイポーラを含むMOS構造を用いて保護したもの | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・・縦型IGBTまたはVDMOSを含むもの | HB | CC | 5F111 | |
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・・・・他のトランジスタまたは他種のパワー素子と組み合わせたもの | HB | CC | 5F111 | |
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縦型トランジスタとの組み合わせ,例.Hブリッジ | HB | CC | 5F111 | |
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横型トランジスタとの組み合わせ | HB | CC | 5F111 | |
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・MOS集積回路との組み合わせ,例.パワーIC | HB | CC | 5F111 | |
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・・構造に特徴のあるもの | HB | CC | 5F111 | |
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・・・パワー部と制御部の分離領域 | HB | CC | 5F111 | |
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・・・パワー部と制御部の配置パターン | HB | CC | 5F111 | |
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・・製造方法に特徴のあるもの | HB | CC | 5F111 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F111 | |
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・・・・保護素子または回路を組み込んだもの | HB | CC | 5F111 | |
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ダイオードを組み込んだもの | HB | CC | 5F111 | |
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・ゲート保護ダイオード | HB | CC | 5F111 | |
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・・SOI構造のもの | HB | CC | 5F111 | |
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・還流ダイオード | HB | CC | 5F111 | |
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トランジスタを組み込んだもの | HB | CC | 5F111 | |
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・動作状態検出のためのトランジスタセル | HB | CC | 5F111 | |
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回路構成に特徴のあるもの | HB | CC | 5F111 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F111 | |
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・・電界効果構成部品のみを集積するもの[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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・・・絶縁ゲート電界効果トランジスタのみを集積するもの[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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MOS構造全体,例.複数素子の配置または製法,に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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チャネル構造またはソース,ドレイン構造 | HB | CC | 5F048 | |
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ゲート電極;ゲート絶縁膜 | HB | CC | 5F048 | |
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コンタクト;電極;配線 | HB | CC | 5F048 | |
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積層型MOS;縦型MOS | HB | CC | 5F048 | |
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MOSICに対する保護回路 | HB | CC | 5F048 | |
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メモリ;論理回路 | HB | CC | 5F048 | |
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回路構成に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・・・寄生効果防止,例.素子分離 | HB | CC | 5F048 | |
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絶縁分離 | HB | CC | 5F048 | |
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チャネルストッパー;ガードリング | HB | CC | 5F048 | |
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基板;埋込み層 | HB | CC | 5F048 | |
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ウェル | HB | CC | 5F048 | |
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SOS;SOI | HB | CC | 5F048 | |
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ダイオードまたは抵抗を用いたもの | HB | CC | 5F048 | |
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バイアスを与えたもの | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・・・エンハンスメントモードの絶縁ゲート電界効果トランジスタおよびデプレッションモードの絶縁ゲート電界効果トランジスタの組み合わせ[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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全体,例.複数素子の配置または製法,に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・・・相補型絶縁ゲート電界効果トランジスタ,例.CMOS[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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CMOS全体,例.複数素子の配置または製法,に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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ウェル;基板;埋込み層 | HB | CC | 5F048 | |
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チャネル構造 | HB | CC | 5F048 | |
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ゲート電極;ゲート絶縁膜 | HB | CC | 5F048 | |
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ソース,ドレイン形成 | HB | CC | 5F048 | |
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コンタクト;電極;配線 | HB | CC | 5F048 | |
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積層型MOS;縦型MOS | HB | CC | 5F048 | |
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CMOSに対する保護回路 | HB | CC | 5F048 | |
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メモリ;論理回路 | HB | CC | 5F048 | |
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回路構成に特徴のあるもの | HB | CC | 5F048 | |
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製造工程の簡略化 | HB | CC | 5F048 | |
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その他のもの | HB | CC | 5F048 | |
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・・ショットキー障壁ゲート電界効果トランジスタを集積するもの[2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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・・PN接合ゲート電界効果トランジスタを集積するもの[2025.01] | HB | CC | 5F082 | |
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・マスタースライス集積回路[2025.01] | HB | CC | 5F048 | |
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・・バイポーラトランジスタを含む集積回路;電界効果トランジスタを含む集積回路(102が優先) | HB | CC | 5F082 | |
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・・絶縁ゲート電界効果トランジスタを含む集積回路 | HB | CC | 5F048 | |