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HB:ハンドブック | ||||
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CC:コンコーダンス | |||||
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グループＧ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１７／００，Ｇ０１Ｎ２１／００またはＧ０１Ｎ２２／００に包含されない波動性または粒子性放射線，例．Ｘ線，中性子線，の使用による材料の調査または分析 | HB | CC | 2G001 | |
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・放射線の材料透過によるもの | HB | CC | 2G001 | |
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・・さらに材料の画像を形成するもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・画像が動画像であるもの，例．動画透視像の目視観察 | HB | CC | 2G001 | |
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・・・プローブビームの走査による透過画像形成，例．Ｘ線ペンシルビームの走査によるＸ線透過画像の形成または走査型透過電子顕微鏡［ＳＴＥＭ］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・ユーザーに提示する表示形式，例．複数画像の同時表示，重畳表示または画面上の配置，に特徴があるもの | HB | CC | 2G001 | |
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・・・位相コントラストイメージング，例．格子干渉計を用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・屈折コントラストイメージング | HB | CC | 2G001 | |
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・・・ラミノグラフィまたはトモシンセシスを用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・トモグラフィーを用いるもの，例．コンピュータ断層撮影［ＣＴ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・コヒーレント散乱ＣＴ［ＣＳＣＴ］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・中性子線を用いるもの［３］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・さらに吸収を測定するもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・放射線がＸ線であるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・Ｘ線吸収微細構造［ＸＡＦＳ］，例．広域Ｘ線吸収微細構造［ＥＸＡＦＳ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・多エネルギーＸ線を用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・放射線が中性子線であるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・ガンマ線共鳴吸収，例．メスバウアー効果を用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・容器内に封入された材料，例．手荷物のＸ線検査［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・材料が流れている流体または流れている粒状固体［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・材料が移動するシートまたはフィルム［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・欠陥または異物の調査［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・タイヤ中の | HB | CC | 2G001 | |
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・材料による放射線の回折の利用によるもの，例．結晶構造の調査のためのもの；材料による放射線の散乱の利用によるもの，例．非結晶構造の調査のためのもの；材料による放射線の反射の利用によるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・透過測定と組み合わせるもの，例．後方散乱Ｘ線画像と透過Ｘ線画像の測定 | HB | CC | 2G001 | |
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・・反射率の測定，例．Ｘ線反射率法［ＸＲＲ］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・分析機器の構造の細部，例．Ｘ線源，検出器または光学系に特徴のあるもの；付属品；試料調製（結晶を用いたＸ線モノクロメーターＧ２１Ｋ１／０６）［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・ゴニオメータ［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・そのための試料ホルダまたは試料支持部材［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・温度制御または加熱手段を備えるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・高圧試験のためのもの，例．アンビルセル［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・そのための粉末試料の調製［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・電子回折の測定，例．低エネルギー電子線回折［ＬＥＥＤ］法または反射高速電子線回折［ＲＨＥＥＤ］法［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・ガンマ線の非弾性散乱の測定，例．コンプトン効果［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・回折放射線のエネルギー分散スペクトル［ＥＤＳ］の測定［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・小角散乱の測定，例．小角Ｘ線散乱［ＳＡＸＳ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・中性子線を用いるもの［３］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・後方散乱の測定［２］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・中性子線を用いるもの［３］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・回折カメラを用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・回折パターンの分析［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・二次元パターン，例．回折図形，菊池線またはデバイ環，の分析 | HB | CC | 2G001 | |
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・・・一次元パターン，例．回折チャート，回折スペクトル，プロファイルまたは波形パターン，の分析，例．リートベルト法 | HB | CC | 2G001 | |
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・・回折法，例．プローブを中心として１以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・材料からの二次放射の測定によるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・そのための試料調製［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・そのための試料支持部材，そのための試料搬送手段［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・二つ以上の測定の組み合わせるものであって，少なくとも一つの二次放射測定を伴うもの，例．二次電子［ＳＥ］測定と後方散乱電子［ＢＳＥ］測定の組み合わせ［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・すべての測定が二次放射測定のもの，例．ＳＥ測定と特性Ｘ線測定の組み合わせ［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・波長分散型分光法［ＷＤＳ］を用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・放射化分析によるもの［２］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・中性子放射化分析［ＮＡＡ］を用いるもの［３］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・Ｘ線またはガンマ線を試料に照射して蛍光Ｘ線を測定するもの［２］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・電子またはイオンマイクロプローブを用いるもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・電子ビームを入射するもの，例．走査型電子顕微鏡［ＳＥＭ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・放射されたＸ線の測定，例．電子線マイクロアナライザ［ＥＰＭＡ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・カソードルミネセンスの測定［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・イオンビーム，例．陽子ビーム，を入射するもの［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・励起されたＸ線の測定，すなわち粒子線励起Ｘ線分析［ＰＩＸＥ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・・二次イオン放射の測定，例．二次イオン質量分析［ＳＩＭＳ］（材料分析のためのＳＩＭＳの質量電荷比を分析する観点Ｇ０１Ｎ２７／６２）［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・光電効果の測定，例．光電子顕微鏡［ＰＥＥＭ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・光電子スペクトルの測定，例．Ｘ線光電子分光法［ＥＳＣＡ］または［ＸＰＳ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |
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・・・オージェ効果を用いるもの，例．オージェ電子分光法［ＡＥＳ］［２０１８．０１］ | HB | CC | 2G001 | |