FIメイングループ/ファセット選択

G01N1/00	サンプリング；調査用標本の調製（自動分析のための材料の取扱いＧ０１Ｎ３５／００）［２００６．０１］		HB	CC	2G052

G01N3/00	機械的応力の負荷による固体材料の強さの調査	(注)/(索引)	HB	CC	2G061

G01N5/00	重量測定による材料分析，例．気体または液体から分離した小粒子の重量測定によるもの（Ｇ０１Ｎ９／００が優先）		HB	CC	2G062

G01N7/00	気体または蒸気の体積または圧力の測定による材料分析		HB	CC	2G062

G01N9/00	材料の比重または密度の調査；比重または密度の測定による材料分析		HB	CC	2G062

G01N11/00	材料の流動性，例．粘度または塑性，の調査；流動性の測定による材料分析		HB	CC	2G048

G01N13/00	表面または境界効果，例．湿潤力，の調査；拡散効果の調査；表面，境界または拡散効果の測定による材料の分析（走査プローブ技術または装置Ｇ０１Ｑ）［１，７］		HB	CC	2G048

G01N15/00	粒子の特徴の調査；多孔性材料の透過率，気孔量または表面積の調査（微生物の同定Ｃ１２Ｑ）［２０２４．０１］		HB	CC	2G049

G01N17/00	天候，腐蝕または光に対する耐久性の調査		HB	CC	2G050

G01N19/00	機械的方法による材料の調査（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１７／００が優先）		HB	CC	2G050

G01N21/00	光学的手段の使用により，すなわちサブミリ波，赤外線，可視光線または紫外線を用いて，材料を調査または分析するもの（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１９／００が優先）［２００６．０１］	(注)/(索引)	HB	CC	2G059

G01N22/00	マイクロ波または電波，すなわち波長が１ミリメーター以上の電磁波，の使用により材料を調査または分析するもの（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１７／００，Ｇ０１Ｎ２４／００が優先）［２００６．０１］		HB	CC	2G044

G01N23/00	グループＧ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１７／００，Ｇ０１Ｎ２１／００またはＧ０１Ｎ２２／００に包含されない波動性または粒子性放射線，例．Ｘ線，中性子線，の使用による材料の調査または分析		HB	CC	2G001

G01N24/00	核磁気共鳴，電子常磁性共鳴または他のスピン効果の使用による材料の調査または分析［３，４，５］		HB	CC	2G044

G01N25/00	熱的手段の利用による材料の調査または分析（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ２３／００が優先）		HB	CC	2G040

G01N27/00	電気的，電気化学的，または磁気的手段の利用による材料の調査または分析（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ２５／００が優先；材料の電気的または磁気的特性またはそれらの変量の測定または試験Ｇ０１Ｒ）		HB	CC	2G060

G01N29/00	超音波，音波または亜音波の使用による材料の調査または分析；超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ２７／００が優先）［４］		HB	CC	2G047

G01N30/00	吸着，吸収もしくは類似現象，またはイオン交換，例．クロマトグラフィ，を用いる成分分離による材料の調査または分析（Ｇ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ２９／００が優先）［４］	(注)/(索引)	HB	CC	2G063

G01N31/00	サブグループに規定された化学的方法の利用による非生物学的材料の調査または分析；該方法に特に用いられる装置［４］	(注)/(索引)	HB	CC	2G042

G01N33/00	グループＧ０１Ｎ１／００～Ｇ０１Ｎ３１／００に包含されない，特有な方法による材料の調査または分析［２００６．０１］		HB	CC	2G055

G01N35/00	グループＧ０１Ｎ１／００～Ｇ０１Ｎ３３／００のいずれか１つに分類される方法または材料に限定されない自動分析；そのための材料の取扱い［３］		HB	CC	2G058

G01N37/00	このサブクラスの他のいずれのグループにも包含されない細部［３］		HB	CC	2G058

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