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G01B15/00	電磁波または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置，例．マイクロ波，Ｘ線，ガンマ線または電子の使用によるもの（光学的技術の使用によって特徴づけられたものＧ０１Ｂ９／００，Ｇ０１Ｂ１１／００）［２００６．０１］	HB	CC	2F067

G01B15/00@A	Ｘ線またはγ線の透過，吸収によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/00@H	・画像を取得［例．ＣＴ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/00@B	荷電粒子線によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/00@K	・画像を取得［例．ＳＥＭ画像，ＴＥＭ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/00@C	マイクロ波または電波によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/00@Z	その他のもの	HB	CC	2F067

G01B15/02	・厚み測定用	HB	CC	2F067

G01B15/02@A	Ｘ線またはγ線の透過，吸収によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@H	・画像を取得［例．ＣＴ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@B	荷電粒子線によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@K	・画像を取得［例．ＳＥＭ画像，ＴＥＭ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@C	マイクロ波または電波によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@D	蛍光，回折，光電子，波長特性の利用によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/02@Z	その他のもの	HB	CC	2F067

G01B15/04	・輪郭または曲率の測定用	HB	CC	2F067

G01B15/04@A	Ｘ線またはγ線の透過，吸収によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/04@H	・画像を取得［例．ＣＴ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/04@B	荷電粒子線によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/04@K	・画像を取得［例．ＳＥＭ画像，ＴＥＭ画像］することによるもの	HB	CC	2F067

G01B15/04@C	マイクロ波または電波によるもの	HB	CC	2F067

G01B15/04@Z	その他のもの	HB	CC	2F067

G01B15/06	・固体の変形測定用	HB	CC	2F067

G01B15/08	・表面の粗さ，または不規則性の測定用［６］	HB	CC	2F067

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