FIメイングループ/ファセット選択

  • G01B1/00
  • 材質の選択に特徴のある測定計器 HB CC 2F060
  • G01B3/00
  • 機械的技術の使用によって特徴づけられた測定計器[2006.01] HB CC 2F061
  • G01B5/00
  • 機械的技術の使用によって特徴づけられた測定装置[2006.01] HB CC 2F062
  • G01B7/00
  • 電気的または磁気的技術の使用によって特徴づけられた測定装置[2006.01] HB CC 2F063
  • G01B9/00
  • 光学的技術の使用によって特徴づけられた測定計器[2006.01] HB CC 2F064
  • G01B11/00
  • 光学的技術の使用によって特徴づけられた測定装置[2006.01] HB CC 2F065
  • G01B13/00
  • 流体の使用によって特徴づけられた測定装置[2006.01] HB CC 2F066
  • G01B15/00
  • 電磁波または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置,例.マイクロ波,X線,ガンマ線または電子の使用によるもの(光学的技術の使用によって特徴づけられたものG01B9/00,G01B11/00)[2006.01] HB CC 2F067
  • G01B17/00
  • 亜音波,音波,または超音波振動の使用によって特徴づけられた測定装置[2006.01] HB CC 2F068
  • G01B21/00
  • 測定技術がこのサブクラスの他のグループに包含されない,特定されていないまたは関連の無い,測定装置またはその細部[2006.01] HB CC 2F069
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