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2F067 | 波動性または粒子性放射線を用いた測長装置 | 電気測定 |
G01B15/00 -15/08 |
G01B15/00-15/08 | AA | AA00 測定内容 |
AA01 | AA02 | AA03 | AA04 | AA06 | AA07 | ||||
・位置,座標 | ・・1次元 | ・・2次元 | ・・3次元 | ・・距離 | ・・変位,移動量 | |||||||
AA12 | AA13 | AA14 | AA15 | AA16 | AA18 | |||||||
・・特殊なもの | ・・・マーク,パターン | ・・・継ぎ目 | ・・・位置ずれ | ・・端部 | ・偏心量 | |||||||
AA21 | AA22 | AA23 | AA24 | AA25 | AA26 | AA27 | AA28 | AA29 | ||||
・長さ,寸法 | ・・径(外径,内径) | ・・高さ | ・・深さ | ・・隙間、間隔、ピッチ | ・・幅 | ・・厚さ,肉厚 | ・・・厚さ分布,肉厚分布 | ・・・・偏肉率の言及 | ||||
AA31 | AA32 | AA33 | ||||||||||
・角度 | ・・面の方向 | ・・パターン端部(エッジ部)傾斜角 | ||||||||||
AA41 | AA42 | AA43 | AA44 | AA45 | AA46 | |||||||
・形状パラメータ | ・・曲率,曲がり,曲率半径 | ・・平坦度,平面度,真直度 | ・・真円度,真球度 | ・・表面の不規則性,凹凸 | ・・表面あらさ | |||||||
AA51 | AA52 | AA53 | AA54 | AA57 | AA58 | |||||||
・輪郭 | ・・断面 | ・・3次元、表面の形状 | ・・パターン | ・面積 | ・体積 | |||||||
AA61 | AA62 | AA63 | AA64 | AA65 | AA67 | |||||||
・物体の姿勢,傾き,表裏 | ・物体の種類,等級,良否判別 | ・物体の重なり | ・摩耗量,侵食量 | ・物体の変形 | ・物体内面の状態の測定 | |||||||
BB | BB00 対象物の形状,材質,種類 |
BB01 | BB02 | BB04 | BB05 | BB06 | BB07 | BB08 | BB09 | |||
・平面平板(長手方向が特定できない) | ・・円盤状 | ・パターンを有するもの | ・中空状 | ・・管状,筒状 | ・球状 | ・環状 | ・柱状,円柱状(除 BB06) | |||||
BB11 | BB12 | BB13 | BB14 | BB15 | BB16 | BB17 | BB18 | BB19 | BB20 | |||
・長尺体,連続移送体 | ・・平面平板状(長手方向特定できる) | ・・線状体 | ・非連続移送体 | ・回転体 | ・多層構造をもつもの | ・・被ふく部 | ・・・メッキ厚,蒸着厚 | ・・・塗布(量,厚さ) | ・液体(ex.油膜) | |||
BB21 | BB22 | BB24 | BB25 | BB26 | BB27 | |||||||
・対象物にマークを有するもの | ・・マーク形状に特徴 | ・危険物,高温物 | ・土質,コンクリート | ・プラスチック,ゴム | ・ガラス,セラミックス | |||||||
CC | CC00 対象物(具体例) |
CC01 | CC02 | CC03 | CC04 | CC05 | CC06 | CC07 | CC08 | CC09 | CC10 | |
・原子力関連 | ・車輌,列車 | ・丸棒,角棒 | ・角材(H,T型鋼) | ・鋼板 | ・鋼管 | ・堆積物,ちん澱物 | ・各種フィルム,シート | ・ケーブル,電線 | ・路面 | |||
CC11 | CC12 | CC13 | CC14 | CC15 | CC16 | CC17 | CC18 | CC19 | ||||
・タイヤ | ・タービン用ブレード | ・ディスク(ex.光,磁気) | ・プリント基板 | ・半導体関連 | ・・マスク | ・・ウエハー | ・各種ビン,容器 | ・人体,動物,生物 | ||||
DD | DD00 測定対象物構成物質,構成元素 |
DD01 | DD02 | DD03 | DD04 | DD05 | DD06 | DD07 | DD08 | DD09 | DD10 | |
・金属(合金を含む) | ・・Mn,Fe,Cr | ・・Ni,Pb,Co | ・・Cd,Au,Hg,Ag | ・・Zn,Sn,Cu | ・・Mg,Al | ・他元素 | ・金属化合物 | ・有機物 | ・他化合物,他物質 | |||
EE | EE00 目的 |
EE01 | EE02 | EE03 | EE04 | EE05 | EE06 | EE09 | EE10 | |||
・消費電力低減 | ・小型化,軽量化 | ・S/N比向上,ノイズ低減 | ・分解能向上 | ・操作性向上 | ・測定系の異常検出(故障検知) | ・誤動作防止 | ・処理高速化,測定の自動化 | |||||
EE11 | EE12 | EE13 | EE14 | EE15 | EE16 | EE17 | EE18 | EE19 | ||||
・外乱成分対策(除 FF00~FF18) | ・・断熱 | ・・振動防止 | ・・E‐H対策;帯電防止 | ・防護,保護 | ・・対象物,標準物の | ・・人体,生物の | ・・装置自体の(耐久性向上) | ・保守,点検の容易化 | ||||
FF | FF00 補正,補償,校正,調整 |
FF01 | FF02 | FF03 | FF04 | FF05 | FF06 | FF07 | FF08 | FF09 | ||
・補正,補償,その原因に言及 | ・・計数誤り,検出系の非線形性 | ・・付着物,粉塵 | ・・水,湿度 | ・・圧力,気圧 | ・・温度 | ・・材質,吸収系数,密度 | ・・体積,重量,厚さ | ・・振動 | ||||
FF11 | FF12 | FF13 | FF14 | FF15 | FF16 | FF17 | FF18 | |||||
・・位置 | ・・角度(パスアングル) | ・・距離(パスライン) | ・校正(注)GG01~GG06 | ・調整 | ・・零点,オフセット | ・・感度 | ・・倍率 | |||||
GG | GG00 標準,基準 |
GG01 | GG02 | GG03 | GG04 | GG05 | GG06 | GG07 | GG08 | GG09 | ||
・標準となるもの | ・・標準線源 | ・・くさび型基準板 | ・・複数種類;複数枚数基準板 | ・・電気的基準 | ・・記憶手段利用 | ・・実物(対象物相互) | ・・正常品のデータ,設計データ | ・・対象物自体 | ||||
HH | HH00 対象物入射粒子,波動,線源,管 |
HH01 | HH02 | HH03 | HH04 | HH05 | HH06 | HH07 | HH08 | HH09 | HH10 | |
・電磁波 | ・・マイクロ波 | ・・・パルス波 | ・・X線 | ・・γ線 | ・e-(β) | ・中性粒子,n | ・イオン,α粒子 | ・放射線のみの記載 | ・その他(粒子,波動,刺激) | |||
HH11 | HH12 | HH13 | HH14 | HH15 | HH16 | HH17 | HH18 | |||||
・R‐I;ラジオアイソトープ | ・X線管 | ・電子銃 | ・他の線源,銃 | ・E(λ)に言及 | ・PC(種類,エネルギー,波長,線源数) | ・特定の入射方向言及されているもの | ・線源,銃の兼用,配置 | |||||
JJ | JJ00 対象物出射粒子,波動 |
JJ01 | JJ02 | JJ03 | JJ04 | JJ05 | JJ06 | JJ07 | JJ08 | JJ09 | JJ10 | |
・電磁波 | ・・マイクロ波 | ・・X線 | ・・γ線 | ・e-(β) | ・中性粒子,n | ・イオン,α粒子 | ・放射線のみの記載 | ・E(λ)に言及されたもの | ・PC(種類,E(λ)) | |||
KK | KK00 利用,言及された現象,測定手法 |
KK01 | KK02 | KK03 | KK04 | KK05 | KK06 | KK07 | KK08 | KK09 | KK10 | |
・螢光X線(X線,γ線照射による) | ・特性X線(電子線照射による) | ・スパッタ,衝撃 | ・2次電子 | ・・光電子 | ・吸収,透過 | ・散乱 | ・・後方,反射 | ・回折 | ・ドップラー効果 | |||
KK11 | KK12 | KK13 | KK14 | |||||||||
・干渉 | ・・定在波 | ・共振 | ・モードに言及しているもの | |||||||||
LL | LL00 検出器関連 |
LL01 | LL02 | LL03 | LL04 | LL06 | LL08 | |||||
・形,構造,材料,製法に言及 | ・特定の配置,方向 | ・・直アレイ状 | ・・曲アレイ状 | ・不要粒子,波動の遮蔽,検出器の保全 | ・ケーブルセンサー | |||||||
LL11 | LL12 | LL13 | LL14 | LL15 | LL16 | LL17 | LL18 | LL19 | ||||
・電離箱 | ・GM管 | ・比例計数管 | ・シンチレーション検出器 | ・半導体放射線検出器 | ・撮像手段(X線TV,TV) | ・光電子増倍管 | ・写真,その他の検出手段 | ・PC(数,種類)LL11~18 | ||||
MM | MM00 分光 |
MM01 | MM02 | MM04 | MM06 | MM07 | ||||||
・結晶,格子 | ・E,H偏向 | ・吸収フィルタ(≠MM02) | ・PC(種類,数) | ・対象物入射前の分光 | ||||||||
NN | NN00 走査形態 |
NN01 | NN02 | NN03 | NN04 | NN05 | NN06 | NN07 | NN08 | NN09 | NN10 | |
・相対移動 | ・・対象物の移動 | ・・・直線移動 | ・・・回転移動 | ・・測定器の移動 | ・・・線源のみの移動 | ・・・検出器のみの移動 | ・・・自転 | ・・・公転 | ・・・直線移動 | |||
PP | PP00 載置・搬送,保持,支持関連 |
PP01 | PP02 | PP03 | PP04 | PP05 | PP07 | |||||
・線源,検出器支持,保持に言及されたもの | ・・変形フレーム | ・・C型,コの字型フレーム | ・・O型フレーム | ・・フレーム上での線源,検出器の移動 | ・・走行車,走行体 | |||||||
PP11 | PP12 | PP13 | PP14 | PP15 | PP16 | PP17 | PP19 | PP20 | ||||
・対象物の保持、支持に言及 | ・・移動テーブル(XY,XYZテーブル) | ・・・回転のみ | ・・回転軸への固定 | ・・ベルトコンベア | ・・ローラ列 | ・・重力利用(傾斜,自然落下) | ・標準物の保持,支持に言及されたもの | ・・円盤型ホルダー | ||||
QQ00 制御 |
QQ01 | QQ02 | QQ03 | QQ04 | QQ06 | QQ07 | QQ08 | QQ09 | QQ10 | |||
・銃,管,線源のパラメータ | ・・偏向 | ・・加速 | ・・周波数 | ・分光系の | ・表示手段の切り換え | ・検出系の | ・・検出器の切り換え | ・測定器以外のものの制御(圧延器の) | ||||
QQ11 | QQ12 | QQ13 | QQ14 | |||||||||
・走査制御に言及 | ・・走査線数,走査密度 | ・・走査速度 | ・・走査開始,走査範囲の制御 | |||||||||
RR | RR00 信号処理,電源関連 |
RR01 | RR02 | RR03 | RR04 | RR05 | RR06 | RR07 | RR08 | RR09 | ||
・波高弁別,波高選別回路 | ・波高分析器 | ・ゲート的手法(逆)同時 | ・閾値の決定,変更,設定 | ・安定化回路 | ・電源関連 | ・フィルタリング | ・サンプリング | ・信号の遅延 | ||||
RR11 | RR12 | RR13 | RR14 | RR15 | RR16 | RR17 | RR18 | RR19 | RR20 | |||
・信号の変換をおこなうもの | ・・A/D変換,多値化,2値化 | ・・D/A変換 | ・・フーリエ変換 | ・・対数変換 | ・・変調,検波 | ・・・周波数変調 | ・・・位相変調 | ・・積分 | ・・微分 | |||
RR21 | RR22 | RR24 | RR25 | RR26 | RR27 | RR28 | RR29 | RR30 | ||||
・信号の特定値,特定位置の値をみるもの | ・・変曲点 | ・信号の比較,減算,差,比 | ・・振幅の比較 | ・・位相の比較 | ・信号の加算,合成(除RR04) | ・信号の平均化,平滑化 | ・信号の記憶(除GG06) | ・・画像信号の記憶 | ||||
RR31 | RR32 | RR33 | RR35 | RR36 | RR37 | RR38 | RR39 | RR40 | ||||
・近似式 | ・・補間 | ・・最小2乗法 | ・画像処理 | ・・輪郭抽出(輪郭強調) | ・・カーソル線,目盛線,指標の発生 | ・・ウインドー発生 | ・・マスキング | ・・画像信号の加算,合成 | ||||
RR41 | RR42 | RR44 | ||||||||||
・統計的解析 | ・・ヒストグラム,頻度分布 | ・相関に言及 | ||||||||||
SS | SS00 指示,記録 |
SS01 | SS02 | SS03 | SS04 | |||||||
・指示,記録の内容 | ・・被測定物の像 | ・・キャラクター(文字,数字) | ・・警報の発生 | |||||||||
SS11 | SS12 | SS13 | SS14 | SS15 | SS16 | SS17 | SS18 | |||||
・手段 | ・・光学的 | ・・・画面表示 | ・・・・立体表示(ステレオ法) | ・・・・濃淡表示 | ・・印字による(プリンター等) | ・・・対象物自体への印示 | ・・音,音声 | |||||
TT | TT00 対象物,標準物への処理,操作に言及 |
TT01 | TT02 | TT03 | TT04 | TT05 | TT06 | TT07 | TT08 | |||
・位置決め,位置調整に言及 | ・清掃,清浄化 | ・熱的(加熱,冷却) | ・機械的 | ・化学的 | ・測定前の | ・測定中の | ・測定後の | |||||
UU | UU00 機能要素,技術事項,マイクロ波回路素子 |
UU01 | UU02 | UU03 | UU05 | UU06 | UU07 | |||||
・開口手段 | ・・コリメート機能 | ・・シャッタ,絞り | ・測定器の位置決め,調整 | ・装置の冷却 | ・遠隔測定(無線,有線) | |||||||
UU11 | UU12 | UU13 | UU14 | UU15 | UU16 | UU17 | UU18 | UU19 | UU20 | |||
・マイクロ波回路素子 | ・・導波管 | ・・分岐回路 | ・・・方向性結合器 | ・・・マジックT | ・・非可逆回路 | ・・・サーキュレータ | ・・・アイソレータ | ・・空胴共振器 | ・・・空洞波長計 | |||
UU22 | ||||||||||||
・・移相器 | ||||||||||||
UU31 | UU32 | UU33 | UU34 | UU35 | UU36 | UU37 | UU38 | UU39 | UU40 | |||
・他分野の測定手段との組み合わせ | ・・光学的な表面の観察手段(顕微鏡) | ・・変位計,距離計,位置検出 | ・・温度測定 | ・・速度検知 | ・・角度,回転検出 | ・・端部検知 | ・・電流計 | ・・電圧計 | ・・熱量計 |