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5D029から分割リスト再作成(H5)、FI化(R2)
5D121 | 光記録担体の製造 | 映像システム |
G11B7/26 -7/26,531 |
G11B7/26-7/26,531 | AA | AA00 対象となる担体又はその部分(EE~JJの場合のみ付与) |
AA01 | AA02 | AA03 | AA04 | AA05 | AA06 | AA07 | AA08 | AA09 | |
・記録層 | ・基板 | ・記録層、基板以外の層 | ・・保護層 | ・・反射層 | ・・トラック層 | ・貼り合わせ型ディスク | ・エアーサンドイッチ型ディスク | ・トラック・ピットの形状・構造に特徴のある担体 | ||||
AA11 | AA12 | AA13 | AA20 | |||||||||
・その他の構造・形状に特徴のある担体 | ・・光カード | ・・テスト用部分をもつもの→HH19参照 | ・その他 | |||||||||
BA | BA00 原盤 |
BA01 | BA03 | BA05 | BA10 | |||||||
・基材 | ・レジスト、レジスト層 | ・基材、レジスト層以外の層 | ・その他 | |||||||||
BB | BB00 原盤の製造(検査はHH15) |
BB01 | BB02 | BB03 | BB04 | BB05 | BB06 | BB07 | BB08 | |||
・レジストを用いるもの→BB23優先 | ・・レジストの塗布 | ・・・不要レジストの除去 | ・・基材、レジスト層以外の層の利用 | ・・・その少なくとも一層が原盤の一部となるもの | ・・凹凸形成後、他の層を積層 | ・・2以上の層の穴あけ操作を、各層毎に行う | ・・基材に凹凸を形成 | |||||
BB11 | BB14 | BB16 | BB17 | BB18 | ||||||||
・レジストを用いないもの | ・・基材の他に2層以上使用 | ・・凹凸形成後、他の層を積層 | ・・2以上の層の穴あけ操作を、各層毎に行う | ・・基材に凹凸を形成 | ||||||||
BB21 | BB22 | BB23 | BB24 | BB25 | BB26 | BB28 | BB29 | BB30 | ||||
・露光 | ・・露光による異なる深さの溝の形成 | ・・・2層のレジスト使用 | ・・干渉縞の利用 | ・・フォトマスク | ・・露光強度の制御 | ・現像 | ・・制御 | ・・現像後の洗浄 | ||||
BB31 | BB32 | BB33 | BB34 | BB38 | BB40 | |||||||
・処理、後加工→GGも付与 | ・・エネルギー線照射 | ・・エッチング | ・・各層の除去 | ・装置、道具 | ・その他 | |||||||
CA | CA00 スタンパ |
CA01 | CA02 | CA03 | CA05 | CA06 | CA07 | CA10 | ||||
・積層構造のもの | ・・接着層を持つもの | ・マスター・マザースタンパ | ・材料 | ・・有機材料を含むもの | ・・特定の金属・金属化合物含有(Ni除く) | ・その他 | ||||||
CB | CB00 スタンパの製造(検査はHH15) |
CB01 | CB02 | CB03 | CB05 | CB06 | CB07 | CB08 | CB09 | CB10 | ||
・積層構造のものの製造 | ・・接着層を持つものの製造 | ・マスター・マザースタンパの製造 | ・一貫工程(原盤工程の区別不能) | ・導電層形成工程 | ・電鋳工程 | ・処理、後加工→GGも付与、CB06・07優先 | ・装置、道具 | ・その他 | ||||
DD | DD00 複製・成形 |
DD01 | DD02 | DD03 | DD04 | DD05 | DD06 | DD07 | DD08 | |||
・成形 | ・・注型成形B29C39参照 | ・・被覆、流延B29C41参照 | ・・圧縮成形B29C43参照 | ・・射出成形B29C45参照 | ・・表面成形(エンボス等)B29C59参照 | ・・スタンパに特徴のある成形 | ・・樹脂以外の材料層の成形を含むもの | |||||
DD11 | DD13 | DD17 | DD18 | DD20 | ||||||||
・原盤から直接複製(スタンパ工程なし) | ・処理、後加工 | ・装置、道具 | ・・型、金型(スタンパ除く)B29C33参照 | ・その他 | ||||||||
EE | EE00 担体各層の形成→DD優先 |
EE01 | EE02 | EE03 | EE04 | EE05 | EE06 | EE07 | EE08 | EE09 | EE10 | |
・気相法による薄膜形成 | ・・真空蒸着 | ・・スパッタリング | ・・イオンプレーティング | ・・CVD(化学気相成長法) | ・・プラズマ重合 | ・・薄膜形成材料 | ・・・蒸発源 | ・・・スパッタリングターゲット | ・・・・ターゲットの形状 | |||
EE11 | EE12 | EE13 | EE14 | EE15 | EE16 | EE17 | EE18 | EE19 | EE20 | |||
・・・・ターゲットの製法 | ・・・有機材料含有 | ・・・無機材料含有 | ・・・・金属元素含有 | ・・・・・単体金属含有 | ・・薄膜形成の雰囲気・環境 | ・・・雰囲気形成ガス | ・・成膜速度 | ・・装置、道具 | ・・・マスク、遮蔽板 | |||
EE21 | EE22 | EE23 | EE24 | EE26 | EE27 | EE28 | EE29 | EE30 | ||||
・液状材料の供給(塗布等) | ・・回転塗布、スピンコート | ・・乾燥、硬化 | ・・装置、道具 | ・基板の溝・凹凸形成(情報、トラック用) | ・2種以上の層の形成工程の組み合わせ | ・処理、後加工→GGも付与 | ・装置、道具→EE19・24優先 | ・その他 | ||||
FF | FF00 担体各層の接合 |
FF01 | FF02 | FF03 | FF04 | FF06 | FF07 | FF09 | ||||
・接着剤使用 | ・・特定組成・物性の接着剤 | ・・・硬化性接着剤 | ・・余剰接着剤の取扱い | ・融着 | ・・超音波融着 | ・雰囲気、環境 | ||||||
FF11 | FF13 | FF15 | FF18 | FF20 | ||||||||
・加圧・押圧処理 | ・前処理、後処理→GGも付与 | ・芯合わせ、偏心防止等 | ・装置、道具 | ・その他 | ||||||||
GG | GG00 処理、後加工→DD13優先 |
GG01 | GG02 | GG03 | GG04 | GG05 | GG07 | GG08 | GG10 | |||
・非接触の処理→GG07優先 | ・・エネルギー線照射 | ・・プラズマ処理→GG04優先 | ・・エッチング(スパッタエッチング・プラズマエッチング等) | ・・イオン注入 | ・熱処理 | ・・アニール | ・加圧・押圧処理→FF11優先 | |||||
GG11 | GG12 | GG13 | GG14 | GG15 | GG16 | GG18 | GG20 | |||||
・液体による処理→GG07優先 | ・・浸漬 | ・・陽極酸化 | ・・エッチング、ウエットエッチング | ・・加水分解 | ・・溶液の種類・組成 | ・洗浄、乾燥→BB30優先 | ・雰囲気、環境 | |||||
GG21 | GG22 | GG24 | GG26 | GG28 | GG30 | |||||||
・粗面化処面 | ・摩擦接触による加工(研摩等) | ・打ち抜き、切断 | ・初期化 | ・装置、道具 | ・その他 | |||||||
HH | HH00 検査、試験,評価 |
HH01 | HH02 | HH04 | HH05 | HH06 | HH07 | HH08 | HH09 | |||
・欠陥(傷、ゴミ等) | ・・ドロップアウト | ・形状 | ・・偏心 | ・・偏心加速度、真円度 | ・・振れ、面振れ | ・・反り | ・・トラック・ピットの形状(幅、深さ等) | |||||
HH11 | HH12 | HH13 | HH14 | HH15 | HH17 | HH18 | HH19 | HH20 | ||||
・光学特性(反射率、透過率、偏光特性等) | ・・複屈折 | ・担体の寿命・劣化度 | ・特定の膜又は層のテスト | ・原盤・スタンパのテスト | ・雰囲気、環境 | ・装置、道具 | ・・テストディスク | ・その他 | ||||
JJ | JJ00 BA~HHに展開されない製造方法・装置 |
JJ01 | JJ02 | JJ03 | JJ04 | JJ05 | JJ06 | JJ07 | JJ08 | JJ09 | JJ10 | |
・芯合わせ、偏心防止等→FF15優先 | ・担体等の支持 | ・・移送、走行 | ・・ガイド、案内 | ・製造コード、識別記号等の付与 | ・補修、メンテナンス | ・複合工程(BB~JJの組合せ) | ・連続工程 | ・装置、道具 | ・その他 |