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リスト再作成旧２Ｇ０３２（Ｈ１２）
2G132 電子回路の試験 電気測定　　　　　　
G01R31/28 -31/3193
G01R31/28-31/30; G01R31/303; G01R31/304; G01R31/306; G01R31/307; G01R31/309; G01R31/311; G01R31/316; G01R31/3161; G01R31/3163; G01R31/3167; G01R31/317; G01R31/3173; G01R31/3177 AA AA00
試験対象 		AA01 AA02 AA03 AA04 AA05 AA06 AA07 AA08 AA09
・論理回路 ・・ＰＬＡ，ＰＬＤ，ゲートアレイ ・・ＣＰＵ，順序回路 ・・カウンター，レジスター，フリップフロップ ・・・スキャン用のフリップフロップ ・・トライステート，双方向素子 ・・多値（３値以上）論理回路 ・・メモリ回路 ・・・ＲＯＭ，不揮発メモリ，磁気バブル
AA11 AA12 AA13 AA14 AA15 AA17 AA18 AA20
・アナログデジタル混在回路（ＡＤ変換器等） ・アナログ回路 ・ＡＳＩＣ ・マルチチップモジュール ・機能ブロック（マクロセル）を有するもの ・バッファ ・ＩＣカード等 ・実装基板
G01R31/28-31/30; G01R31/3161; G01R31/3163; G01R31/3173; G01R31/3177; G01R31/3181 AB AB00
試験内容 		AB01 AB02 AB03 AB04 AB05 AB06 AB07 AB08 AB09 AB10
・機能試験 ・・動作分析、アナライザ ・スクリーニング，バーンイン，エージング ・限界試験，寿命試験，信頼性試験 ・・動作マージン ・・・電圧マージン ・・・タイミングマージン ・・・ノイズマージン ・・・・静電気ノイズ ・・・・高周波ノイズ
AB11 AB12 AB13 AB14 AB15 AB16 AB17 AB18 AB20
・・瞬断，電圧急変 ・・耐電圧 ・・環境試験 ・・・温度 ・・・湿度 ・・・振動，衝撃，圧力 ・・・塵埃 ・・・放射線，紫外線 ・監視（動作状態における試験）
G01R31/28-31/30; G01R31/3193 AC AC00
試験方法 		AC01 AC02 AC03 AC04 AC05 AC06 AC07 AC09 AC10
・標準回路と比較 ・被試験体同志で比較 ・基準データと比較 ・圧縮データによって比較 ・・特性信号（シグネチャー）を比較 ・・パルス数によって比較 ・・アナログ値，多レベル値で比較 ・シミュレーション ・・実回路からの出力を解析するもの
AC11 AC12 AC14 AC15 AC16 AC17
・・回路設計の為のもの ・・ハードウエアシミュレーション，模擬回路 ・スキャンイン，アウト，パス，ＬＳＳＤ ・・バウンダリスキャン（境界走査試験） ・・・内部スキャンとの併用 ・・パーシャルスキャン
G01R31/28-31/30 AD AD00
試験項目 		AD01 AD02 AD03 AD04 AD05 AD06 AD07 AD08 AD10
・電圧、電流、電力 ・パラメトリック特性 ・インピーダンス ・周波数、位相 ・論理値（ＨＬ）の電圧 ・論理パターンの一致 ・遅延時間、タイミング ・・リングオシレータを用いるもの ・波形、パルス幅
AD15 AD18
・断線、短絡、配線状態 ・発熱検知
G01R31/28-31/30; G01R31/3177; G01R31/319 AE AE00
試験装置（テストヘッドを除く） 		AE01 AE02 AE03 AE04 AE06 AE08 AE10
・被試験体を移送する為の装置 ・被試験体を固定する為の装置 ・・空気圧、真空による固定 ・・基板の位置決め、位置検知 ・波形形成回路（フォーマッタ） ・ドライバー、センサー回路 ・入出力兼用端子への接続回路
AE11 AE12 AE14 AE16 AE18 AE19
・信号切替手段 ・・リレーマトリクスアレイ ・比較判定回路 ・表示 ・記録 ・・フェイルメモリ
AE21 AE22 AE23 AE24 AE25 AE26 AE27 AE29 AE30
・実使用時環境を達成する為の回路 ・制御回路 ・・プログラムによる制御 ・・複数試験装置の一括制御（ホストシステム） ・テストヘッドへの中継部材 ・保護回路 ・電源 ・小型チェッカー、ロジックチェッカー ・インサーキットテスター
G01R31/28-31/30; G01R31/302-31/315 AF AF00
テストヘッド 		AF01 AF02 AF03 AF04 AF05 AF06 AF07 AF08 AF10
・プローブ ・・複数プローブを有するもの ・・プローブの配置に関するもの ・・・プローブの取付位置の決定方法 ・・・多品種の被試験体への対応に関するもの ・・プローブと被試験体の相対位置の制御 ・・・上下方向の制御（接触圧，接触検知等） ・・振動，回転を与えるもの ・・プロービング用アダプター（変換等）
AF11 AF12 AF13 AF14 AF15 AF16 AF18 AF20
・・非接触型プローブ ・・・粒子線（イオンビーム等）を使用するもの ・・・電子線（ＥＢ）を使用するもの ・・・レーザ，光を使用するもの ・・・・電気光学素子を使用するもの ・・・磁気，静電誘導によるもの ・ピンエレクトロニクス（プローブ切換等） ・プローブの加熱，冷却をするもの
G01R31/28-31/30; G01R31/3183 AG AG00
信号の印加に関するもの 		AG01 AG02 AG03 AG04 AG05 AG06 AG08 AG09
・試験信号の発生 ・・メモリ内容の読出しによる発生 ・・演算による発生 ・・読出したデータを加工して出力 ・・ランダム信号の発生 ・・１サイクル中に多数の信号を発生 ・クロックパルス，タイミング信号 ・強制的な信号の印加
AG11 AG12 AG13 AG14 AG15
・試験用データの作成 ・・スキャン用検査パターンの作成 ・・エディタ，表示回路を利用して作成 ・・シミュレーション技術を用いるもの ・・・回路設計データ（仕様）を用いるもの
G01R31/28-31/30 AH AH00
信号の検出に関するもの 		AH01 AH02 AH03 AH04 AH05 AH07
・信号の保持 ・信号の加工 ・特定の信号を識別するもの ・ラッチ信号 ・ストローブ信号 ・検出信号による制御
AJ AJ00
補助具 		AJ01 AJ02 AJ03 AJ04 AJ05 AJ06 AJ07 AJ08
・エクステンションボード ・・能動素子を有するもの ・・スイッチ，表示器付 ・・機械的な構造に特徴あり ・点検用アダプター ・テンプレート ・クリップ，ソケット ・・ＩＣ用クリップ
G01R31/28-31/30; G01R31/3185; G01R31/3187 AK AK00
試験の為の被試験体の構成 		AK01 AK02 AK03 AK04 AK05 AK07 AK08 AK09 AK10
・ＩＣの形，ＩＣの端子の構造 ・チェック端子コネクター ・回路基板 ・・プリントパターン ・筐体構造 ・試験の為の回路構成 ・・排他的論理和を用いるもの ・・比較判定回路を用いるもの ・・プルアップ，プルダウンの為のもの
AK11 AK12 AK13 AK14 AK15 AK16 AK17 AK18 AK19 AK20
・・回路分割，分離の為のもの ・・初期化，同期の為のもの ・・試験動作制御の為のＣＰＵ，論理演算回路 ・・・スキャン用 ・・試験モードへの切替回路 ・・・通常電圧以外の電圧で切り替えるもの ・・・シフトレジスタを用いるもの ・・・カウンタを用いるもの ・・・ＡＤ変換回路を用いるもの ・・・デコーダを用いるもの
AK21 AK22 AK23 AK24 AK25 AK26 AK27 AK29
・・・遅延回路を用いるもの ・・試験用の入出力回路 ・・・スキャンイン，アウト，パス回路 ・・・・スキャン用ＦＦの内部回路構成が記載 ・・・・・構成要素がトランスファゲート，ＦＥＴ ・・・・スキャンパス内蔵回路の設計 ・・・・クロックのタイミングを調整する構成 ・・自己診断（ＢＩＳＴ等）
G01R31/28-31/30 AL AL00
目的，その他 		AL01 AL02 AL03 AL04 AL05 AL06 AL07 AL09 AL10
・被試験体の識別，存在の検知 ・・電子的手段によるもの ・接続の確実化 ・接続の確認，誤接続の検出 ・接続線の本数の減少（端子数の減少） ・多品種への対応（汎用性のあるもの） ・・品種，試験項目で試験プログラムを変更 ・試験時間の短縮 ・・簡易試験だけで済ませるもの
AL11 AL12 AL13 AL14 AL15 AL16 AL18 AL19 AL20
・試験精度の向上 ・不良個所，原因の特定等 ・試験装置の調整 ・・初期設定（校正，較正は除く） ・・校正，較正 ・・タイミングの調整（スキュー等） ・インピーダンスマッチ ・・接地するもの ・・終端抵抗を使用するもの
AL21 AL22 AL24 AL25 AL26 AL29
・温度調整 ・・試験装置の冷却 ・レベル変換 ・複数の被試験体の試験 ・・並列試験 ・母線（バス等）に接続した状態での試験
AL31 AL32 AL33 AL35 AL38 AL40
・異常時の処理，保護 ・低機能装置で高機能素子を試験 ・・試験装置を補助する装置，回路 ・試験装置の構成要素の配置改善 ・試験装置の動作試験 ・試験方法としては一般的なもの
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