FI(一覧表示)

G01R31/00	電気的性質を試験するための装置；電気的故障の位置を示すための装置；試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で，他に分類されないもの（製造中に半導体装置または固体装置を試験もしくは測定するものＨ０１Ｌ２１／６６；有線伝送方式の試験Ｈ０４Ｂ３／４６）	HB	CC	2G036

G01R31/01	・類似の物品を順次に試験するもの，例．大量生産における“合格／不合格”試験；対象物が試験場所を通過する際に試験を行うもの（試験装置を連続的に通過するケーブルの試験Ｇ０１Ｒ３１／５９；絶縁耐力または破壊電圧の試験Ｇ０１Ｒ３１／１２　）［２０２０．０１］	HB	CC	2G036

G01R31/08	・ケーブル，伝送線，または回路網の故障個所の検出［２０２０．０１］	HB	CC	2G033

G01R31/10	・・故障点の破壊を増大させることによるもの，例．特殊なプログラムを働かすパルスの発生器を使用して燃焼させるもの	HB	CC	2G033

G01R31/11	・・パルス反射法を用いるもの	HB	CC	2G033

G01R31/12	・絶縁耐力または破壊電圧の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G015

G01R31/12@A	コロナ放電の検出	HB	CC	2G015

G01R31/12@B	ケーブルの試験	HB	CC	2G015

G01R31/12@C	碍子の試験	HB	CC	2G015

G01R31/12@D	トラッキング試験	HB	CC	2G015

G01R31/12@Z	その他のもの	HB	CC	2G015

G01R31/14	・・そのための回路	HB	CC	2G015

G01R31/16	・・試験容器の構造；そのための電極	HB	CC	2G015

G01R31/18	・・類似物品を順次に試験するもの，例．大量生産における“合格／不合格”試験	HB	CC	2G015

G01R31/20	・・試験を容易にするための物品または標本の準備	HB	CC	2G015

G01R31/24	・放電管の試験（製造中のものＨ０１Ｊ９／４２）［２０２０．０１］	HB	CC	2G036

G01R31/24@A	ブラウン管，陰極線管	HB	CC	2G036

G01R31/24@B	・受像管	HB	CC	2G036

G01R31/24@C	放電管	HB	CC	2G036

G01R31/24@D	・けい光灯	HB	CC	2G036

G01R31/24@E	・・点灯管	HB	CC	2G036

G01R31/24@F	マイクロ波管〔マグネトロン，進行波管，クライストロン〕	HB	CC	2G036

G01R31/24@G	光電子増倍管，二次電子増倍管，ＧＭ管，Ｘ線管	HB	CC	2G036

G01R31/24@Z	その他	HB	CC	2G036

G01R31/25	・・真空管の試験［２］	HB	CC	2G036

G01R31/26	・個々の半導体装置の試験（製造中または処理中の試験または測定Ｈ０１Ｌ２１／６６；光電圧装置の試験Ｈ０２Ｓ５０／１０）［２０２０．０１］	HB	CC	2G003

G01R31/26@A	トランジスタ	HB	CC	2G003

G01R31/26@B	ＦＥＴ，ＵＪＴ	HB	CC	2G003

G01R31/26@C	ダイオード	HB	CC	2G003

G01R31/26@D	サイリスタ・トライアック	HB	CC	2G003

G01R31/26@E	電荷結合素子	HB	CC	2G003

G01R31/26@F	特殊素子	HB	CC	2G003

G01R31/26@G	集積回路	HB	CC	2G003

G01R31/26@H	環境試験	HB	CC	2G003

G01R31/26@J	プローブ等の試験のための接触具〔測定用採針１／０６〕	HB	CC	2G003

G01R31/26@Z	その他のもの	HB	CC	2G003

G01R31/265	・・非接触試験［６］	HB	CC	2G003

G01R31/27	・・回路の一部を形成している素子の回路から物理的に取り外さないままの，例．周囲の要素からの影響を補正した，試験［６］	HB	CC	2G003

G01R31/28	・電子回路の試験，例．シグナルトレーサーによるもの（待機作動中または遊休時間中のコンピュータの検査Ｇ０６Ｆ１１／２２）	HB	CC	2G132

G01R31/28@A	論理回路の試験	HB	CC	2G132

G01R31/28@B	・メモリ，記憶回路の試験	HB	CC	2G132

G01R31/28@C	アナログ回路を含む回路の試験	HB	CC	2G132

G01R31/28@D	標準回路，基準データと比較	HB	CC	2G132

G01R31/28@E	・圧縮データによる検査	HB	CC	2G132

G01R31/28@F	シミュレーションによる試験	HB	CC	2G132

G01R31/28@G	スキャンイン，スキャンアウト，スキャンパスによる試験	HB	CC	2G132

G01R31/28@H	試験装置	HB	CC	2G132

G01R31/28@J	・ＩＣ，基板等のためのフィクスチャー	HB	CC	2G132

G01R31/28@K	・プローブ〔探針一般は，Ｇ０１Ｒ１／０６〕	HB	CC	2G132

G01R31/28@L	・・非接触型プローブ	HB	CC	2G132

G01R31/28@M	・回路	HB	CC	2G132

G01R31/28@N	小型チェッカー	HB	CC	2G132

G01R31/28@P	信号，電圧の印加	HB	CC	2G132

G01R31/28@Q	・試験信号の発生	HB	CC	2G132

G01R31/28@R	信号，電圧の検出	HB	CC	2G132

G01R31/28@S	試験，点検用アダプター	HB	CC	2G132

G01R31/28@T	・エクステンションボード	HB	CC	2G132

G01R31/28@U	試験のための被試験体の構成	HB	CC	2G132

G01R31/28@V	・回路構成	HB	CC	2G132

G01R31/28@W	・・試験モードへの切換	HB	CC	2G132

G01R31/28@X	被試験体の種別識別，存在検出	HB	CC	2G132

G01R31/28@Y	複数の被試験体を試験するためのもの	HB	CC	2G132

G01R31/28@Z	その他のもの	HB	CC	2G132

G01R31/30	・・限界試験，例．供給電圧を変えることによるもの（待機作動中または遊休時間中のコンピュータの検査Ｇ０６Ｆ１１／２２）［２］	HB	CC	2G132

G01R31/302	・・非接触試験［５］	HB	CC	2G132

G01R31/303	・・・集積回路におけるもの（Ｇ０１Ｒ３１／３０５～Ｇ０１Ｒ３１／３１５が優先）［６］	HB	CC	2G132

G01R31/304	・・・プリント回路またはハイブリッド回路におけるもの（Ｇ０１Ｒ３１／３０５～Ｇ０１Ｒ３１／３１５が優先）［６］	HB	CC	2G132

G01R31/305	・・・電子ビームを用いるもの［５］	HB	CC	2G132

G01R31/306	・・・・プリント回路またはハイブリッド回路におけるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/307	・・・・集積回路におけるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/308	・・・非イオン電磁放射，例．光線，を用いるもの［５］	HB	CC	2G132

G01R31/309	・・・・プリント回路またはハイブリッド回路におけるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/311	・・・・集積回路におけるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/312	・・・容量法によるもの［５］	HB	CC	2G132

G01R31/315	・・・誘導法によるもの［５］	HB	CC	2G132

G01R31/316	・・アナログ回路の試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3161	・・・限界試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3163	・・・機能試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3167	・・アナログデジタル混在回路の試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/317	・・デジタル回路の試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3173	・・・限界試験［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3177	・・・論理回路の試験，例．ロジック・アナライザによるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3181	・・・機能試験（Ｇ０１Ｒ３１／３１７７が優先）［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3183	・・・・試験入力，例．テストベクトル，パターンまたはシーケンス，の発生［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3185	・・・・試験のための構成変更，例．ＬＳＳＤ，回路分割［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3187	・・・・ビルトインテスト［６］	HB	CC	2G132

G01R31/319	・・・・テスターハードウエア，すなわち，出力処理回路［６］	HB	CC	2G132

G01R31/3193	・・・・・実際のレスポンスと既知の正確なレスポンスとの比較によるもの［６］	HB	CC	2G132

G01R31/327	・回路電流断続器，スイッチまたは回路遮断器の試験［６］	HB	CC	2G116

G01R31/333	・・高電圧回路遮断器の開閉容量の試験［６］	HB	CC	2G116

G01R31/333@A	試験一般	HB	CC	2G116

G01R31/333@B	合成試験または等価試験	HB	CC	2G116

G01R31/333@C	３相短絡試験	HB	CC	2G116

G01R31/333@D	近距離故障試験	HB	CC	2G116

G01R31/333@E	開閉装置の試験等	HB	CC	2G116

G01R31/333@F	多点切タンク型遮断器の試験	HB	CC	2G116

G01R31/333@G	構造的なもの	HB	CC	2G116

G01R31/333@Z	その他のもの	HB	CC	2G116

G01R31/34	・発電機，電動機の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G116

G01R31/34@A	電圧または電流測定によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@B	絶縁抵抗測定によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@C	磁束測定によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@D	放電測定等によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@E	負荷試験によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@F	総合特性測定によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@G	振動測定等によるもの	HB	CC	2G116

G01R31/34@Z	その他のもの	HB	CC	2G116

G01R31/36	・蓄電池または電池の電気的状態，例．容量または充電状態［ＳｏＣ］，の試験，測定または監視のための装置［２０２０．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/364	・・測定装置と一体化されたバッテリーターミナルコネクタ［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/367	・・試験，測定または監視のためのソフトウェア，例．電池試験のためのモデリングまたはルックアップテーブルを用いるもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/371	・・遠隔表示をともなうもの，例．外部充電器で表示するもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/374	・・温度または経年変化に応じて測定値を補正する手段を有するもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/378	・・電池または蓄電池の種類に特に適合したもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/379	・・・鉛蓄電池に特に適合したもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/382	・・電池または蓄電池の変量を監視するための装置，例．ＳｏＣ［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/3828	・・・電流積算を用いるもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/3832	・・・・電池電圧を測定しないもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/3835	・・・電圧の測定のみによるもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/3842	・・・電圧と電流の測定を組み合わせるもの（Ｇ０１Ｒ３１／３８２８が優先）［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/385	・・電池または蓄電池の変量を測定するための装置（監視用Ｇ０１Ｒ３１／３８２）［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/387	・・・充電容量［Ａｈ］またはＳｏＣの判定［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/388	・・・・電圧の測定を含むもの［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/389	・・内部インピーダンス，内部導電率または関連する変量の測定［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/392	・・電池の経年変化または劣化の判定，例．ＳｏＨ［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/396	・・電池内の個々のセルまたはセルのグループを試験または監視するためのデータの取得または処理［２０１９．０１］	HB	CC	2G216

G01R31/40	・電源の試験（光電圧装置の試験Ｈ０２Ｓ５０／１０）［２０２０．０１］	HB	CC	2G036

G01R31/42	・・ＡＣ電源［６］	HB	CC	2G036

G01R31/44	・ランプの試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G036

G01R31/50	・短絡，導通，漏電または誤配線のための電気機器，導電線，ケーブルまたは構成要素の試験（スパークプラグの試験Ｈ０１Ｔ１３／５８）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/52	・・短絡，漏電または地絡のための試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/54	・・導通のための試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/55	・・誤配線のための試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/56	・・電気機器の試験（変圧器の試験Ｇ０１Ｒ３１／６２，接続部の試験Ｇ０１Ｒ３１／６６）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/58	・・導電線，ケーブルまたは導体の試験（電気巻線の試験Ｇ０１Ｒ３１／７２）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/59	・・・ケーブルが試験装置を連続的に通過する間，例．製造中，の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/60	・・・多芯ケーブル中のワイヤの識別［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/62	・・変圧器の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/64	・・キャパシタの試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/66	・・接続部，例．プラグまたは切り離しのできないジョイント，の試験（誤配線のための試験Ｇ０１Ｒ３１／５５）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/67	・・・電気機器または回路内のワイヤ接続の正しさの試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/68	・・・取外し可能な接続部，例．プリント回路基板上に取り付けられた端子，の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/69	・・・・ケーブルまたはワイヤハーネスの終端の端子の試験；プラグの試験；ソケット，例．壁付けソケットまたは電気機器における電源ソケット，の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/70	・・・構成要素とプリント回路基板との間の接続部の試験（Ｇ０１Ｒ３１／６８が優先）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/71	・・・・はんだ接合部の試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/72	・・電気巻き線の試験（変圧器の試験Ｇ０１Ｒ３１／６２）［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

G01R31/74	・・ヒューズの試験［２０２０．０１］	HB	CC	2G014

このページは、メイングループG01R31/00内の「FI」を全て表示しています。	HB:ハンドブック
	CC:コンコーダンス