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2G003 個々の半導体装置の試験 電気測定
G01R31/26 -31/27
G01R31/26-31/26@Z; G01R31/27 AA AA00
試験対象 		AA01 AA02 AA03 AA04 AA05 AA06 AA07 AA08 AA09 AA10
・トランジスタ（バイポーラトランジスタ） ・ユニポーラ素子；ＦＥＴ，ＭＯＳ，ＵＪＴ ・サイリスタ，トライアック；ＳＣＲ，ＧＴＯ ・検波用．整流用ダイオード ・特殊ダイオード ・光素子；発光素子．フォトカプラ．太陽電池 ・ＩＣ・ＬＳＩ・集積回路 ・メモリ素子 ・電荷結合素子（ＣＣＤ），ＢＢＤ，ＣＩＤ ・ウェハー
G01R31/26-31/26@Z AB AB00
測定項目 		AB01 AB02 AB03 AB04 AB05 AB06 AB07 AB08 AB09 AB10
・電圧・電流特性（特性曲線を含む） ・消費電流．消費電力．入・出力電流 ・順・逆方向特性 ・・しきい値電圧．ツェナー電圧 ・漏洩電流．リーク電流．暗電流 ・インピーダンス ・・容量 ・電圧．電流．電力の増幅率・利得 ・スイッチング特性；立上り時間．遅延時間 ・遮断周波数
AB11 AB12 AB13 AB14 AB15 AB16 AB17 AB18 AB19
・点弧特性（サイリスタ） ・・レート効果．ｄｖ／ｄｔ耐量．耐雑音性 ・高調波歪 ・雑音パラメータ；雑音電力．雑音電圧 ・熱低抗 ・素子の温度 ・極性判別 ・オープン・ショート検出．断線・短絡検出 ・品種判別
AC AC00
試験内容 		AC01 AC02 AC03 AC04 AC05 AC06 AC07 AC08 AC09
・寿命試験．バーンイン試験．エージング ・機械的強度試験；振動試験．衝撃試験 ・温度特性試験 ・・熱衝撃試験．温度サイクル試験 ・耐湿性試験 ・・プレッシャークッカー試験 ・気密性試験 ・耐電圧試験；破壊電圧 ・ボンディング部の試験
AD AD00
試験条件の付与 		AD01 AD02 AD03 AD04 AD05 AD06 AD07 AD08 AD09 AD10
・加熱・冷却手段 ・・恒温槽 ・・発熱体・冷却体の接触 ・・気体の吹き付け ・・赤外線の照射 ・・素子自体の発熱利用 ・バイアス．逆バイアスの印加 ・液体中に侵漬 ・振動．荷重．圧力の印加 ・水蒸気発生器．加湿器
AE AE00
試験信号 		AE01 AE02 AE03 AE04 AE05 AE06 AE07 AE08 AE09 AE10
・直流 ・交流 ・・高周波 ・鋸歯状波 ・階段波 ・パルス波．矩形波 ・半波・全波整流波（脈流） ・定電流．定電圧 ・高電圧．大電流 ・帰還回路による一定値制御
AF AF00
試験結果の処理 		AF01 AF02 AF03 AF04 AF05 AF06 AF07 AF08 AF09
・数値表示．電圧計．電流計 ・メモリ記憶 ・ＣＲＴ．ＸＹレコーダ ・印字記録 ・選別器を駆動 ・良否の指示 ・音響による表示．警報 ・マーキング ・発光素子による表示
G01R31/26-31/26@Z; G01R31/265 AG AG00
接触部．信号の印加 		AG01 AG02 AG03 AG04 AG05 AG06 AG07 AG08 AG09 AG10
・ソケット ・クリップ ・プローブ ・ウェハープローバ．プローブカード ・マウント．導波管との接続 ・電子線 ・液状．導電性ゴムの接触部を有するもの ・プリントボード ・測定用制御端子を有するもの ・素子の挿入．引き抜きを容易にするもの
AG11 AG12 AG13 AG14 AG15 AG16 AG17 AG18 AG19 AG20
・搬送路と密接な関係を有するもの ・接触状態を良好にするもの ・プローブの接触状態の検知・監視・試験 ・ＩＣマガジン ・リード線を分離する構成を有するもの ・素子の位置決め、方向揃え． ・試験信号の選択． ・素子の選択 ・プローブの選択 ・プローブの位置決め．
G01R31/26-31/26@Z AH AH00
制御．判定．目的．その他 		AH01 AH02 AH03 AH04 AH05 AH06 AH07 AH08 AH09 AH10
・コンピュータによる制御 ・基準値・基準波形との比較 ・良品との比較 ・試験の迅速化 ・試験精度の向上 ・試験装置の故障・異常検知．試験．較正 ・試験装置・素子の保護・破壊防止 ・発熱抑制．放熱 ・雑音混入防止．ノイズ除去 ・故障検知．劣化検出
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