FI(一覧表示)

  • G01N22/00
  • マイクロ波または電波,すなわち波長が1ミリメーター以上の電磁波,の使用により材料を調査または分析するもの(G01N3/00~G01N17/00,G01N24/00が優先)[2006.01] HB CC 2G044
  • G01N22/00@A
  • ガスの濃度,種類の測定〔水蒸気の測定はG01N22/04〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@B
  • 配向,方向性の測定 HB CC 2G044
  • G01N22/00@C
  • マイクロ波放射計の利用〔G01J,G01R優先〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@D
  • プラズマの測定 HB CC 2G044
  • G01N22/00@E
  • 氷,雪の測定 HB CC 2G044
  • G01N22/00@F
  • 測定に用いる検出素子〔誘電体棒,誘電体共振器,その他〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@G
  • ・導波管 HB CC 2G044
  • G01N22/00@H
  • ・・スリツトを有する導波管〔スリツトに試料を通過させるものはG01N22/00G〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@J
  • ・・空洞共振器 HB CC 2G044
  • G01N22/00@K
  • ・マイクロストリツプ HB CC 2G044
  • G01N22/00@L
  • ・自由空間,開放空間を有するもの,アンテナ一般〔ラツパ管等〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@M
  • 測定方法一般 HB CC 2G044
  • G01N22/00@N
  • ・照射マイクロ波の周波数変調を行なうもの HB CC 2G044
  • G01N22/00@P
  • ・被検体と検出素子とが相対的に移動するもの HB CC 2G044
  • G01N22/00@Q
  • ・干渉,複数の波の重ね合わせを行なうもの HB CC 2G044
  • G01N22/00@R
  • ・偏光波を利用するもの HB CC 2G044
  • G01N22/00@S
  • ・測定試料からの反射波の利用 HB CC 2G044
  • G01N22/00@T
  • 測定量一般〔Q値,定在波の有無,その他〕 HB CC 2G044
  • G01N22/00@U
  • ・電力・強度 HB CC 2G044
  • G01N22/00@V
  • ・周波数 HB CC 2G044
  • G01N22/00@W
  • ・位相 HB CC 2G044
  • G01N22/00@X
  • ・振幅 HB CC 2G044
  • G01N22/00@Y
  • ・〔比〕誘電率,誘電正接 HB CC 2G044
  • G01N22/00@Z
  • その他 HB CC 2G044
  • G01N22/02
  • ・きずの存在の調査[3] HB CC 2G044
  • G01N22/02@A
  • きずの検出 HB CC 2G044
  • G01N22/02@B
  • 異物の検出 HB CC 2G044
  • G01N22/02@C
  • CT〔断層装置等,G01N22/00,G01N22/04にかかわらず付与〕に関するもの HB CC 2G044
  • G01N22/02@Z
  • その他 HB CC 2G044
  • G01N22/04
  • ・含水量の調査[3] HB CC 2G044
  • G01N22/04@A
  • ガス状水分の検出 HB CC 2G044
  • G01N22/04@B
  • シ-ト状物質中の水分検出 HB CC 2G044
  • G01N22/04@C
  • 粉粒体状物質中の水分検出 HB CC 2G044
  • G01N22/04@Z
  • その他 HB CC 2G044
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