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HB:ハンドブック | ||||
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CC:コンコーダンス | |||||
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光学的技術の使用によって特徴づけられた測定計器［２００６．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・干渉計［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・放射に固有の特性の制御または生成に特徴のあるもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・２つ以上の異なる周波数を用いるもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・・ビート周波数を用いるもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・・周波数走査によるもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・光路の構成に特徴があるもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・標的物と光ビーム群の間に複数の相互作用があるもの，例．異なる位置から発生するビーム反射［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・・マルチパス干渉計，例．ダブルパス干渉計［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・エラーの低減または防止；試験するもの；較正［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・エラーの受動的低減［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・・傾きまたは位置ずれによる影響の低減または防止［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・低コヒーレンス干渉計［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・断層撮影干渉計，例．光学的コヒーレンスに基づくもの［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・自己干渉計［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・シアリング干渉計［２０２２．０１］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・ホログラフィ技術によるもの［２］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・等高線作成用（Ｇ０１Ｂ９／０２５～Ｇ０１Ｂ９／０２９が優先）［２］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・二重露光方式［２］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・実時間式［２］ | HB | CC | 2F064 | |
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・・・時間平均式［２］ | HB | CC | 2F064 | |
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・測定用顕微鏡 | HB | CC | 2F064 | |
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・測定用望遠鏡 | HB | CC | 2F064 | |
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・光投影式コンパレータ | HB | CC | 2F064 | |
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・複数の面の間の角度測定用ゴニオメータ | HB | CC | 2F064 | |