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5B048 | デジタル計算機の試験診断 | 情報処理 |
G06F11/22 -11/277 |
G06F11/22;G06F11/22,605@A-11/22,607@Z:G06F11/22,626-11/277 | AA | AA00 被試験装置 |
AA01 | AA02 | AA03 | AA04 | AA05 | AA06 | AA07 | AA08 | AA09 | AA10 |
・論理回路 | ・・演算回路 | ・・・パイプライン演算回路 | ・インタフエース | ・・データ転送装置 | ・・・バス | ・・・チヤネル | ・入出力装置 | ・・表示装置 | ・・端末装置 | |||
AA11 | AA12 | AA13 | AA14 | AA15 | AA16 | AA17 | AA18 | AA19 | AA20 | |||
・マイクロコンピュータ | ・・ワンチップマイコン | ・・評価用マイコン | ・・マイコン応用装置 | ・専用装置 | ・・電卓 | ・マルチプロセッサシステム | ・・分散処理システム | ・メモリ,デイスク | ・IC,LSI | |||
AA21 | AA22 | AA23 | ||||||||||
・回路素子 | ・プリント配線回路 | ・エラー検出回路の試験 | ||||||||||
BB | BB00 試験装置 |
BB01 | BB02 | BB03 | BB04 | BB05 | ||||||
・サ-ビスプロセッサ | ・インサ-キットエミュ-レ-タ | ・マイクロプロセッサアナライザ | ・ロジックアナライザ | ・ロジックチェッカ | ||||||||
CC | CC00 試験方法 |
CC01 | CC02 | CC03 | CC04 | CC05 | CC06 | CC07 | ||||
・基準素子と比較 | ・基準パターンと比較 | ・折返し試験 | ・オンライン試験 | ・試験コマンド | ・バーンイン,エージング | ・複数同時試験 | ||||||
CC11 | CC12 | CC13 | CC14 | CC15 | CC16 | CC17 | CC18 | CC19 | CC20 | |||
・自己診断 | ・相互診断 | ・初期診断 | ・定期診断 | ・遠隔診断 | ・マイクロ診断 | ・記録診断 | ・スキヤンパス | ・・スキヤンイン,アウト | ・・シフトパス | |||
DD | DD00 試験手段 |
DD01 | DD02 | DD03 | DD04 | DD05 | DD06 | DD07 | DD08 | DD09 | DD10 | |
・試験プログラム | ・・試験プログラムの選択 | ・・試験プログラムの作成 | ・・・試験プログラムのデバッグ | ・テストパターン | ・・乱数を利用したテストパターン | ・試験クロック | ・試験用入出力装置 | ・・試験結果の表示装置 | ・内蔵試験回路 | |||
DD11 | DD12 | DD13 | DD14 | DD15 | DD16 | DD17 | DD18 | |||||
・診断辞書 | ・・知識ベースを利用した診断辞書 | ・・正解作成 | ・シミュレータ | ・・論理回路シミュレータ | ・・故障シミュレーション | ・・模擬入出力 | ・・疑似エラー | |||||
EE | EE00 試験項目 |
EE01 | EE02 | EE03 | EE04 | EE05 | EE06 | EE07 | EE08 | EE09 | ||
・電圧,電流 | ・AC特性,タイミング | ・波形 | ・温度 | ・負荷 | ・アドレス | ・布線,配線 | ・マージン | ・性能評価 | ||||
FF | FF00 試験制御 |
FF01 | FF02 | FF03 | FF04 | FF05 | FF06 | |||||
・試験モード | ・障害探索 | ・試験環境 | ・試験開始終了 | ・試験順序の選択 | ・被試験回路の識別 |