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５Ｌ１０６へ分割（Ｈ０３）、リスト再作成（Ｈ０６）、解析要否変更（Ｈ２０）、１９８２年以降に発行された文献を解析対象としている、ＦＩ化（Ｒ６）
| 5B018 | 記憶装置の信頼性向上技術 | 情報処理 |
| G06F12/16 | ||
| G06F12/16 | GA | GA00 目的 |
GA01 | GA02 | GA03 | GA04 | GA05 | GA06 | GA07 | GA10 | ||
| ・エラー検出 | ・エラー訂正 | ・試験，診断，検査 | ・誤動作防止，障害防止，データ消失防止 | ・障害判定 | ・障害処理 | ・監視 | ・その他＊ | |||||
| HA | HA00 手段 |
HA01 | HA02 | HA03 | HA04 | HA05 | HA06 | |||||
| ・書込み読出し比較 | ・多重化 | ・・記憶内容の多重化 | ・・記憶装置の多重化 | ・・多重系 | ・・多数決 | |||||||
| HA11 | HA12 | HA13 | HA14 | HA15 | HA16 | HA17 | ||||||
| ・冗長符号 | ・・パリティ | ・・チェックサム | ・・エラー訂正符号 | ・・・ＳＥＣ―ＤＥＤ | ・・・複数パリティ | ・・部分書込み | ||||||
| HA21 | HA22 | HA23 | HA24 | HA25 | HA26 | |||||||
| ・故障位置情報（エラーポインタ） | ・トレース機能 | ・書込み回数の管理，制限 | ・アドレス変換 | ・アドレス比較 | ・書込み保護 | |||||||
| HA31 | HA32 | HA33 | HA34 | HA35 | HA36 | HA40 | ||||||
| ・タイミング関係，時間関係 | ・・同期 | ・・遅延 | ・連想メモリ | ・メモリ構成 | ・・インタリーブ | ・その他＊ | ||||||
| JA | JA00 試験 |
JA01 | JA02 | JA03 | JA04 | JA05 | ||||||
| ・並列試験 | ・・同時書込み | ・・同時読出し | ・・基準データとの比較 | ・・出力データ間の比較 | ||||||||
| JA11 | JA12 | JA13 | JA14 | |||||||||
| ・試験パターン | ・・データパターン | ・・アドレスパターン | ・・乱数 | |||||||||
| JA21 | JA22 | JA23 | JA24 | JA25 | JA26 | JA30 | ||||||
| ・試験機能付き，自己診断 | ・試験プログラム | ・スキャンパス | ・試験バイパス，経路切替え | ・疑似障害 | ・機密保護関連 | ・その他＊ | ||||||
| KA | KA00 エラー処理 |
KA01 | KA02 | KA03 | ||||||||
| ・エラーに関するデータの収集，記録，表示 | ・報告（割り込み） | ・データ退避 | ||||||||||
| KA11 | KA12 | KA13 | KA14 | KA15 | KA16 | KA17 | KA18 | |||||
| ・障害回復 | ・・再試行（リトライ） | ・・正常メモリへの置換 | ・・・動的置換 | ・・障害領域の非選択 | ・・ビット列単位の切替え | ・・アドレス単位の切替え | ・・領域単位の切替え | |||||
| KA21 | KA22 | KA23 | KA30 | |||||||||
| ・・訂正データの再書込み | ・・正常データの再ロード（転送） | ・・初期化 | ・その他＊ | |||||||||
| LA | LA00 電源 |
LA01 | LA02 | LA03 | LA04 | LA05 | LA06 | LA07 | LA10 | |||
| ・電源バックアップ | ・・データの同一性検査 | ・電圧比較，検出 | ・・バックアップ電圧検出 | ・・電源断の予告信号 | ・瞬断対策 | ・節電 | ・その他＊ | |||||
| MA | MA00 対象 |
MA01 | MA02 | MA03 | MA04 | MA05 | MA06 | |||||
| ・主記憶 | ・仮想記憶 | ・バッファ記憶（キャッシュメモリ） | ・共有メモリ | ・制御メモリ（ＣＭ） | ・冗長記憶部 | |||||||
| MA11 | MA12 | MA13 | MA14 | MA15 | MA16 | |||||||
| ・磁気記憶装置，素子 | ・・ハードディスク | ・・フロッピーディスク | ・・ディスクアレイ | ・光記憶装置，素子 | ・・光ディスク | |||||||
| MA21 | MA22 | MA23 | MA24 | |||||||||
| ・シーケンシャルメモリ | ・電子ディスク（半導体ディスク） | ・ＲＯＭを組込んだメモリシステム | ・ＩＣカード，メモリカード | |||||||||
| MA31 | MA32 | MA33 | MA34 | MA35 | MA36 | MA40 | ||||||
| ・チェック回路 | ・アドレス回路，アドレス線 | ・メモリ制御回路、制御線 | ・バス | ・・データ入出力回路 | ・・入出力レジスタ | ・その他＊ | ||||||
| NA | NA00 メモリの種類 |
NA01 | NA02 | NA03 | NA04 | NA05 | NA06 | NA07 | NA08 | NA10 | ||
| ・ＲＡＭ | ・・ＤＲＡＭ | ・・ＳＲＡＭ | ・ＲＯＭ | ・・ＰＲＯＭ | ・・・ＥＡＲＯＭ，ＥＥＰＲＯＭ | ・マルチポートメモリ | ・ワンチップマイコン | ・その他＊ | ||||
| PA | PA00 改良手段 |
PA01 | PA02 | PA03 | PA10 | |||||||
| ・ハード，ソフトの削減，簡略化 | ・・共通化 | ・モードの切替え，機能選択 | ・その他＊ | |||||||||
| QA | QA00 時期 |
QA01 | QA02 | QA03 | QA04 | QA05 | QA06 | |||||
| ・稼働時 | ・・空き時間 | ・・リフレッシュ時 | ・・定期的（パトロール） | ・・電源異常時，電源切断時 | ・・電源回復時 | |||||||
| QA11 | QA12 | QA13 | QA14 | QA15 | QA16 | QA20 | ||||||
| ・電源投入時 | ・電源バックアップ時 | ・試験，診断，検査モード時 | ・リード動作時 | ・ライト動作時 | ・リード／ライト動作時 | ・その他＊ | ||||||
| RA | RA00 エラーの種類 |
RA01 | RA02 | RA03 | RA04 | |||||||
| ・１ビットエラー | ・多重エラー | ・固定エラー | ・間欠エラー（ソフトエラー） | |||||||||
| RA11 | RA12 | RA13 | RA14 | RA20 | ||||||||
| ・データ | ・プログラム | ・アドレス | ・ファイル | ・その他＊ |