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| 2G059 | 光学的手段による材料の調査、分析 | 物理測定 |
| G01N21/00 -21/01@Z;21/17-21/61 | ||
| G01N21/00-21/01;21/17-21/61 | AA | AA00 測定目的 |
AA01 | AA02 | AA03 | AA05 | AA06 | AA10 | ||||
| ・成分分析，濃度測定 | ・材料の光学的特性の測定 | ・光学的特性以外の材料特性の測定 | ・検査；検出；状態の観察 | ・病気の診断 | ・他の目的（Ｆ） | |||||||
| BB | BB00 測定対象 |
BB01 | BB02 | BB04 | BB05 | BB06 | BB08 | BB09 | BB10 | |||
| ・気体 | ・・大気 | ・液体，液状流動体 | ・・水，海水，河川水 | ・・懸濁液 | ・固体 | ・・粉体，粒体 | ・・シート状，膜状のもの | |||||
| BB11 | BB12 | BB13 | BB14 | BB15 | BB16 | BB20 | ||||||
| ・食品（例，牛乳，果実，穀類） | ・生体試料 | ・・体液（例，血液，尿） | ・・細胞 | ・製品，半製品（１６が優先） | ・半導体材料，半導体製品 | ・その他（Ｆ） | ||||||
| CC | CC00 検出物質 |
CC01 | CC02 | CC03 | CC04 | CC05 | CC06 | CC07 | CC08 | CC09 | CC10 | |
| ・無機物（Ｆ） | ・・元素；イオン（Ｆ） | ・・・金属元素；金属イオン（Ｆ） | ・・ＣＯ，ＣＯ２ | ・・ＮＯＸ（ＮＯ，ＮＯ２など） | ・・硫黄化合物（ＳＯ２など） | ・・酸素（Ｏ２） | ・・オゾン | ・・水分，水 | ・・・湿度 | |||
| CC11 | CC12 | CC13 | CC14 | CC15 | CC16 | CC17 | CC18 | CC19 | CC20 | |||
| ・・・霧，雨滴，水滴，露，霜 | ・有機物（Ｆ） | ・・炭化水素 | ・・オイル，油分 | ・・アルコール | ・生体関連物質 | ・・免疫学的反応生成物 | ・・ヘモグロビン | ・煙，煤煙，浮遊微粒子，エーロゾル | ・その他（Ｆ） | |||
| DD | DD00 試料の調整及び取扱い |
DD01 | DD02 | DD03 | DD04 | DD05 | DD06 | |||||
| ・試料の調整，前処理 | ・・妨害成分や干渉の除去 | ・・化学的な処理 | ・・濃縮，抽出，希釈 | ・・撹拌 | ・・乳化，ホモジナイズ | |||||||
| DD11 | DD12 | DD13 | DD15 | DD16 | DD17 | DD18 | DD20 | |||||
| ・試料の取扱い | ・・サンプリング；試料の移送，移動，導入 | ・・試料の保持，設定，位置決定 | ・試料の環境又は雰囲気の制御 | ・・温度制御 | ・・・恒温保持，インキュベーション | ・・・低温冷却 | ・標準試料の調整，組成，構造 | |||||
| EE | EE00 分析法（原理） |
EE01 | EE02 | EE03 | EE04 | EE05 | EE06 | EE07 | EE09 | EE10 | ||
| ・光透過，光吸収 | ・光反射，光散乱，回折 | ・・ラマン散乱 | ・光屈析，光偏向 | ・偏光特性の利用 | ・発光 | ・・蛍光，りん光，フォトルミネッセンス | ・光干渉の利用 | ・・分光のために利用するもの | ||||
| EE11 | EE12 | EE13 | EE15 | EE16 | EE17 | EE18 | EE20 | |||||
| ・複数波長を用いるもの | ・・スペクトル測定（ＥＥ１０，１３が優先） | ・・色，色彩，三刺激値を測定するもの | ・光エネルギーが他の量に変換されるもの | ・・光音響 | ・・電気的変量（導電度，電圧，電流など） | ・・光電子 | ・その他（Ｆ） | |||||
| FF | FF00 分析法（形態） |
FF01 | FF02 | FF03 | FF04 | FF05 | FF06 | FF07 | FF08 | FF09 | FF10 | |
| ・空間分布の測定；走査又は撮像するもの | ・・３次元分布，立体的分布を測定するもの | ・顕微鏡的微小領域の測定 | ・時間的変化の測定，時間分解測定 | ・・試料に変化を加えてその前後で比較 | ・サンプリングや前処理のない直接分析 | ・液中に浸漬する検出器を用いるもの | ・標準試料や参照試料と比較するもの | ・・ダブルビーム法 | ・多成分分析 | |||
| FF11 | FF12 | FF13 | FF20 | |||||||||
| ・多数試料を分析するもの | ・試薬又は指示薬を用いるもの | ・トレーサーを用いるもの | ・その他（Ｆ） | |||||||||
| GG | GG00 光源 |
GG01 | GG02 | GG03 | GG04 | GG05 | GG06 | GG07 | GG08 | GG09 | GG10 | |
| ・レーザ | ・半導体光源（例，ＬＥＤ，ＥＬ） | ・複数の光源を用いるもの | ・偏光を用いるもの | ・光源モニター用の手段を有するもの | ・光変調手段を備えるもの | ・・断続光とするもの | ・・・パルス光とするもの | ・・波長変調手段を備えるもの | ・その他 | |||
| HH | HH00 使用波長 |
HH01 | HH02 | HH03 | HH04 | HH05 | HH06 | HH08 | HH09 | |||
| ・赤外線 | ・可視光 | ・紫外線 | ・・真空紫外線 | ・その他の電磁波（Ｘ線，マイクロ波など） | ・特定波長値について言及があるもの | ・波長合せに関するもの | ・使用波長の安定化に関するもの | |||||
| JJ | JJ00 光学要素 |
JJ01 | JJ02 | JJ03 | JJ04 | JJ05 | JJ06 | JJ07 | ||||
| ・分光手段 | ・・フィルタ | ・・・干渉フィルタ | ・・・ガス封入フィルタ | ・・回折格子 | ・・分光用プリズム | ・・ダイクロイックミラー | ||||||
| JJ11 | JJ12 | JJ13 | JJ14 | JJ15 | JJ16 | JJ17 | JJ18 | JJ19 | JJ20 | |||
| ・レンズ | ・分光用以外のプリズム（０６が優先） | ・ミラー，反射面（０７が優先） | ・・曲面ミラー，曲面反射面 | ・・光走査用 | ・積分球 | ・光ファイバー，導光路，光ロッド | ・液晶，電気光学結晶 | ・偏光要素 | ・波長板（例，４分の１波長板） | |||
| JJ21 | JJ22 | JJ23 | JJ24 | JJ25 | JJ26 | JJ30 | ||||||
| ・ガラス板，石英板（単なる光学窓を除く） | ・ビームスプリッタ，コンバイナ，セクター | ・シャッター | ・チョッパー | ・減光板，中性濃度フィルタ | ・光拡散板 | ・その他の特殊な光学要素（Ｆ） | ||||||
| KK | KK00 検出手段 |
KK01 | KK02 | KK03 | KK04 | KK05 | KK06 | KK07 | KK08 | KK09 | KK10 | |
| ・光電検出器 | ・・光電子増倍管 | ・・複数の検出器を用いるもの | ・・・検出器アレイ，ＴＶカメラ，ＣＣＤ | ・・・複数の検出器を光路に直列に配列するもの | ・写真フィルム | ・目視によるもの | ・振動検出器，圧力検出器（例マイクロホン） | ・熱検出器，熱電対，熱式流量計 | ・その他の検出器（Ｆ） | |||
| LL | LL00 光学系の特徴及び補助機能 |
LL01 | LL02 | LL03 | LL04 | LL10 | ||||||
| ・光軸合せ，焦点合せ，位置合せ，光路長設定 | ・光利用効率の向上 | ・・光路長増大（例，多重光路） | ・妨害光（例，外光，迷光）の排除 | ・その他の特徴（Ｆ） | ||||||||
| MM | MM00 信号処理，検出回路 |
MM01 | MM02 | MM03 | MM04 | MM05 | MM06 | MM07 | MM08 | MM09 | MM10 | |
| ・演算を行うもの（和，積，微分，対数など） | ・ヒストグラム，統計処理 | ・平均値 | ・ピーク検出，最大値，最小値 | ・基準値や閾値と比較するもの | ・パルス計数 | ・回路の時定数を設定又は制御するもの | ・遅延回路を用いるもの | ・デジタル処理，２値化 | ・メモリ手段を用いるもの | |||
| MM11 | MM12 | MM13 | MM14 | MM15 | MM16 | MM17 | MM18 | MM19 | MM20 | |||
| ・・サンプルホールド回路を用いるもの | ・検量線に関するもの | ・信号の線形化に関するもの | ・装置の較正，感度調整 | ・・零調整 | ・・スパン調整 | ・・ドリフト補償，ベースライン変動の補正 | ・・測定レンジ，ダイナミックレンジ | ・・動作チェック，感度チェック | ・その他 | |||
| NN | NN00 誤差原因の除去又は補償 |
NN01 | NN02 | NN03 | NN04 | NN05 | NN06 | NN07 | NN08 | NN09 | NN10 | |
| ・バックグラウンド，他成分による干渉 | ・温度，熱 | ・振動 | ・圧力 | ・光源に原因するもの | ・光学系に原因するもの | ・・光学要素の汚れ又は劣化 | ・検出器に原因するもの | ・電源，電気回路に原因するもの | ・その他のもの（Ｆ） | |||
| PP | PP00 その他の特徴 |
PP01 | PP02 | PP03 | PP04 | PP05 | PP06 | PP10 | ||||
| ・測定の自動化に関するもの | ・安全への配慮，異常への対処 | ・・誤動作，誤操作防止 | ・表示，記録，記憶 | ・・オシロスコープ，シンクロスコープの使用 | ・信号伝達 | ・その他のもの（Ｆ） |