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| 2G043 | 蛍光または発光による材料の調査，分析 | 物理測定 |
| G01N21/62 -21/74 | ||
| G01N21/62-21/74 | AA | AA00 測定目的 |
AA01 | AA03 | AA04 | AA06 | ||||||
| ・成分分析、濃度測定 | ・状態（例・表面状態）の観察、検査 | ・識別 | ・他の目的（Ｆ） | |||||||||
| BA | BA00 検出物質 |
BA01 | BA02 | BA03 | BA04 | BA05 | BA06 | BA07 | BA09 | BA10 | ||
| ・金属元素 | ・・Ｆｅ | ・・Ａｌ | ・・Ｈｇ | ・・Ａｓ | ・ハロゲン | ・他元素（Ｆ） | ・酸素（Ｏ２） | ・水分 | ||||
| BA11 | BA12 | BA13 | BA14 | BA15 | BA16 | BA17 | ||||||
| ・硫黄化合物（ＳＯ２など） | ・ＮＯｘ（ＮＯ，ＮＯ２など） | ・ＣＯ，ＣＯ２ | ・有機物 | ・・油、油脂 | ・生体関連物質（例・蛋白質） | ・他の化合物、他のもの（例・バクテリア）（Ｆ） | ||||||
| CA | CA00 試料の形態 |
CA01 | CA02 | CA03 | CA04 | CA05 | CA06 | CA07 | CA09 | |||
| ・気体状 | ・・プラズマ（除・ＩＣＰのプラズマ） | ・液状流動体 | ・・液中固体（固体の方に関心があるもの） | ・固体 | ・・粉体、粒体 | ・・シート状、膜状のもの | ・その他の形態 | |||||
| DA | DA00 試料の調整及び取扱い |
DA01 | DA02 | DA04 | DA05 | DA06 | DA08 | DA09 | ||||
| ・試料の調整、前処理 | ・・化学的な処理 | ・試料の取扱い | ・・試料の移送、移動、導入 | ・・試料の着脱、保持、設定、位置決定 | ・試料の環境又は雰囲気の制御 | ・標準試料の調整、構造 | ||||||
| EA | EA00 分析法 |
EA01 | EA02 | EA03 | EA04 | EA06 | EA07 | EA08 | EA09 | EA10 | ||
| ・蛍光、フォトルミネッセンス | ・りん光 | ・ラマン散乱 | ・・ＣＡＲＳ（カールス），ＣＳＲＳ | ・発光 | ・・炎光 | ・・誘導結合プラズマ（ＩＣＰ） | ・・アーク、スパーク、放電 | ・・光（例・レーザ）照射 | ||||
| EA11 | EA13 | EA14 | EA15 | EA17 | EA18 | EA19 | ||||||
| ・・粒子ビーム（例・電子ビーム）照射 | ・透過、吸光 | ・光散乱 | ・その他の光学的分析法 | ・光学的でない分析法との組合せ | ・・クロマトグラフ | ・・電気泳動 | ||||||
| FA | FA00 分析形態 |
FA01 | FA02 | FA03 | FA05 | FA06 | FA07 | FA09 | ||||
| ・空間分布の測定、走査又は撮像するもの | ・顕微鏡的微小領域の測定 | ・寿命、時間分解測定、時間的変化の測定 | ・サンプリングや前処理のない直接分析 | ・複数波長を用いるもの | ・標準試料や参照試料と比較するもの | ・その他の特殊な分析形態（Ｆ） | ||||||
| GA | GA00 制御の対象（ＧＢと組合わせる） |
GA01 | GA02 | GA03 | GA04 | GA06 | GA07 | GA08 | GA09 | GA10 | ||
| ・光学系 | ・・入射側光学系 | ・・試料部の光学系 | ・・検出側光学系 | ・光源部 | ・試料部 | ・検出部 | ・電源部、放電回路 | ・電極、誘導コイル | ||||
| GA11 | GA12 | GA14 | GA15 | GA16 | GA17 | GA19 | ||||||
| ・バーナ | ・・スリット型バーナ | ・加熱体、アトマイザ | ・・筒状 | ・・線状、フィラメント状 | ・・板状、ボート状 | ・霧化器，ネブライザ | ||||||
| GA21 | GA22 | GA23 | GA25 | GA28 | ||||||||
| ・表示、記録 | ・信号伝達 | ・安全、保守、異常への対処 | ・分析手法 | ・その他（Ｆ） | ||||||||
| GB | GB00 制御パラメータ（ＧＡと組合わせる） |
GB01 | GB02 | GB03 | GB05 | GB07 | GB08 | GB09 | GB10 | |||
| ・位置、配置、配列 | ・長さ、径、幅 | ・角度、方向、向き | ・形状 | ・温度、冷却、加熱 | ・圧力 | ・流量 | ・電流 | |||||
| GB11 | GB12 | GB13 | GB14 | GB16 | GB17 | GB18 | GB19 | |||||
| ・電圧 | ・電場 | ・磁場 | ・インピーダンス | ・材質 | ・絶縁、隔離、遮へい、遮断 | ・交換、選択、切換 | ・運動、動き | |||||
| GB21 | GB28 | |||||||||||
| ・手順、シーケンス、時間 | ・その他 | |||||||||||
| HA | HA00 光学要素 |
HA01 | HA02 | HA03 | HA04 | HA05 | HA06 | HA07 | HA08 | HA09 | ||
| ・レンズ | ・ミラー，反射面 | ・・曲面ミラー，曲面反射面 | ・積分球 | ・光ファイバー、導光路、光ロッド | ・液晶、電気光学結晶 | ・偏光要素 | ・ガラス板、石英板（除，単なる光学窓） | ・ビームスプリッタ、コンバイナ、セクター | ||||
| HA11 | HA12 | HA15 | ||||||||||
| ・シャッター | ・チョッパー | ・その他の特殊な光学要素 | ||||||||||
| JA | JA00 分光手段 |
JA01 | JA02 | JA03 | JA04 | JA05 | JA08 | |||||
| ・分光手段 | ・・（色）フィルタ | ・・干渉フィルタ | ・・回折格子 | ・・プリズム | ・波長走査を行うもの | |||||||
| KA | KA00 使用波長及び特性 |
KA01 | KA02 | KA03 | KA04 | KA05 | KA07 | KA08 | KA09 | |||
| ・赤外光 | ・可視光 | ・紫外光 | ・・真空紫外光 | ・特定波長値についての言及があるもの | ・偏光 | ・パルス光 | ・レーザ | |||||
| LA | LA00 検出手段 |
LA01 | LA02 | LA03 | LA04 | LA05 | LA07 | |||||
| ・光電検出器 | ・・光電子増倍管 | ・・検出器（素子）アレイ、ＴＶカメラ | ・写真フィルム | ・目視によるもの | ・その他の検出手段（Ｆ） | |||||||
| MA | MA00 好ましくない事象の回避又は補償 |
MA01 | MA03 | MA04 | MA05 | MA06 | ||||||
| ・バックグラウンド、他成分による干渉 | ・温度要因 | ・電気的雑音（含・Ｓ／Ｎ比改善） | ・振動 | ・光学系の汚れ又は劣化 | ||||||||
| MA11 | MA12 | MA13 | MA16 | |||||||||
| ・光源に原因する事象 | ・検出器に原因する事象（暗電流など） | ・電源、電気回路に原因する事象 | ・その他の事象（Ｆ） | |||||||||
| NA | NA00 信号処理、演算 |
NA01 | NA02 | NA04 | NA05 | NA06 | ||||||
| ・演算（含・和、積、微分、対数など） | ・ヒストグラム、統計処理 | ・信号サンプリング、ゲート | ・デジタル処理 | ・・メモリを利用するもの | ||||||||
| NA11 | NA12 | NA13 | NA14 | NA16 | ||||||||
| ・検量線に関するもの | ・信号の線形化に関するもの | ・装置の校正、感度調整 | ・測定レンジに関するもの | ・その他 |