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2G040 熱的手段による材料の調査、分析 分析診断　　　　　　
G01N25/00 -25/72@Z
G01N25/00-25/72@Z AA AA00
測定の目的；ＡＢが優先Ｆ 		AA01 AA02 AA03 AA04 AA05 AA06 AA07 AA08 AA09
・熱伝導，熱分布のシミュレーション ・成分分析，不純物検出，組成の決定 ・・定量分析，混合比 ・・・湿度の測定 ・欠陥検出，予測 ・・キズ，欠け，ピンホールの検出 ・・剥離，隙間の検出 ・・付着物，汚れの検出 ・保温性能，断熱性能の測定
AB AB00
利用，検出する熱的定数，現象Ｆ 		AB01 AB02 AB03 AB04 AB05 AB06 AB07 AB08 AB09 AB10
・熱物理的特異点 ・・凝固点 ・・露点 ・引火点，爆発性 ・比熱，熱容量 ・熱力学的特性函数；例，エントロピー ・熱膨張，熱収縮，熱変形 ・熱の移動；例，熱伝達 ・・熱伝導度 ・・熱流方向，熱分光
AB11 AB12 AB13 AB14 AB15 AB16 AB17 AB18 AB19 AB20
・熱的分離；例，蒸留，抽出，析出Ｆ ・熱の発生，吸収；ＡＢ１９優先Ｆ ・・気化熱；例，乾，湿球温度計 ・・二成分以上の反応熱 ・・・燃焼熱，酸化熱 ・・・・接触酸化；触媒を用いたもの ・・・希釈，溶解，吸収等 ・熱起電力 ・熱応力分布，異常過熱 ・指標，指数，インデックスの設定
BA BA00
一次試料Ｆ 		BA01 BA02 BA03 BA04 BA05 BA06 BA08 BA09 BA10
・一次試料物質Ｆ ・・化合物，混合物；ＢＡ０３以下が優先 ・・土壌 ・・燃料一般 ・・・石炭，鉱物 ・・・石油，ガソリン ・・金属，金属間化合物，合金 ・・・Ｎａ，Ｎａ化合物 ・・・圧延材，スラブ，鋼材
BA12 BA13 BA14 BA15 BA16 BA17 BA18
・・空気 ・・蒸気配管内の蒸気 ・・人的構築物，装置；ＢＡ１０優先 ・・・配管；配管の汚れ，付着物を含む ・・・建屋；例，ビル，大型タンク等の壁 ・・・魔法瓶，デュアー瓶 ・・・電気，電子回路
BA21 BA22 BA23 BA24 BA25 BA26 BA27 BA28 BA29
・一次試料の形状，形態Ｆ ・・流動性を有する状態のもの；ＢＡ２９優先 ・・・気体 ・・・液体 ・・固体 ・・・積層体 ・・・板状 ・・・管状 ・・・粉状，粒状
BB BB00
検出成分，試薬，触媒Ｆ 		BB01 BB02 BB03 BB04 BB07 BB09 BB10
・検出成分一般，不純物一般Ｆ ・・炭素 ・・ケイ素 ・・Ｈ２Ｏ，水 ・試薬の種類Ｆ ・触媒の種類Ｆ ・・白金触媒
CA CA00
実際の測定量と測定手段（試料自身）Ｆ 		CA01 CA02 CA03 CA05 CA07 CA08 CA09 CA10
・試料の温度；（測温手段はＤＡ） ・・経時変化；ＣＡ０３優先 ・・形状、状態変化、分離現象の観察時の測温 ・特定温度下での状態変化の観察 ・補正の為の測定量Ｆ ・・試料の重量 ・・試料の体積 ・・試料の圧力，流量
CA11 CA12 CA13 CA14 CA15 CA16 CA17 CA18
・形状、状態変化、分離現象Ｆ ・・光学的性質変化 ・・電気的性質変化 ・・流量変化 ・・圧力変化 ・・重量変化 ・・形の変化 ・・・長さ、大きさの変化
CA21 CA22 CA23 CA24 CA25 CA29
・ＣＡ１１～ＣＡ２０を検出する手段Ｆ ・・電気、磁気的手段 ・・光学的手段 ・・目視手段 ・・機械的手段；例，破れ，破壊，蓋の飛び ・試料に印加される熱量；ＣＢ０９優先
CB CB00
実際の測定量（試料環境に関するもの）Ｆ 		CB01 CB02 CB03 CB04 CB05 CB07 CB08 CB09
・対象環境 ・・周囲流体；移動しているもの ・・周囲流体；一定容器内 ・・試料と直接接触、反応するもの ・・装置外雰囲気；例，大気；試料はＣＡ ・測定量；ＣＡが優先 ・・圧力，流量；ＣＡが優先 ・・温度，熱；ＣＡ０１優先
CB11 CB12 CB14 CB16
・試料環境量の測定の目的Ｆ ・・試料温度、熱を間接的に測定する為 ・・加熱、冷却制御の為 ・・補正の為；ＣＢ１４優先
DA DA00
測温手段Ｆ 		DA01 DA02 DA03 DA04 DA05 DA06 DA07 DA08 DA09 DA10
・種類 ・・電気的温度計；ＤＡ０８優先 ・・・熱電対 ・・水銀，アルコール温度計；ＤＡ０７優先 ・・放射温度計；点としてみるもの ・・赤外線カメラ；画像としてみるもの ・・乾、湿球温度計 ・・・電気的乾、湿球温度計 ・・バイメタル ・・その他の特定な示温材料Ｆ
DA11 DA12 DA13 DA14 DA15 DA16
・配置Ｆ ・・加熱、冷却面と同一面上 ・・加熱、冷却面の裏面 ・・加熱、冷却面の内部 ・・多点測定、分布測定の為の配置 ・・加熱、冷却制御の為の配置
DA21 DA22 DA24 DA25
・構造、形状、材質に特徴のあるものＦ ・・測温と他の作用、測定と兼用するもの ・移動、走査の手段、方法Ｆ ・・自走車によるもの
EA EA00
加熱、冷却、恒温、点火手段Ｆ 		EA01 EA02 EA03 EA04 EA05 EA06 EA07 EA08
・種類 ・・抵抗線、ニクロム線、電気炉 ・・バーナー ・・誘導加熱、マイクロ波加熱 ・・アーク放電、プラズマ放電 ・・赤外線ランプ、レーザー ・・ペルチェ素子 ・・高温媒体、低温媒体Ｆ
EA11 EA13 EA14 EA15
・配置に特徴のあるものＦ ・構造、形状、材質に特徴のあるものＦ ・・試料容器と兼用のもの ・・乾、湿球の冷却、給水手段
EB EB00
構造、形状、材質に特徴のあるものＦ 		EB01 EB02 EB03 EB04 EB05 EB06 EB07 EB08
・炉、装置の予備加熱、冷却 ・試料、試薬の加熱、冷却 ・・試料、試薬の予備加熱、冷却 ・凝縮部、凝縮基板の加熱、冷却 ・示差走査熱量計等の補償用 ・断熱用、恒温用 ・燃焼継続用 ・着火用、点火用
EC EC00
加熱、冷却、恒温、点火の制御方法Ｆ 		EC01 EC02 EC03 EC04 EC06 EC07 EC08 EC09 EC10
・加熱、冷却の印加のさせ方とその制御方法Ｆ ・・パルス状印加 ・・ステップ状印加 ・・交流、周期的印加 ・目的とする対象の温度変化とその制御方法 ・・等温 ・・等速加熱、等速冷却 ・・プログラム的加熱、冷却 ・複数装置の制御
FA FA00
ＣＡ，ＣＢ，ＤＡ，ＥＡ以外の付属部Ｆ 		FA01 FA02 FA03 FA04 FA05 FA06 FA07 FA08 FA09 FA10
・試料皿、試料容器の構造 ・・試料採取兼用容器の構造 ・試料、容器の挿入、取出具；ＦＡ０２優先 ・試料皿、試料容器の支持、保持部の構造 ・加熱、冷却をしない断熱手段 ・均一加熱を行なわせる手段；例，均熱板 ・・プロペラ，ファン，かきまぜ棒 ・オリフィス、その他の凝縮部の構造、形状 ・材質に特徴のあるものＦ ・配置に特徴のあるものＦ
GA GA00
測定中の条件、取扱いＦ 		GA01 GA03 GA04 GA05 GA06 GA07 GA08 GA09
・試料に強制加熱、強制冷却を行なわないもの ・試料雰囲気条件の設定 ・・特定ガスの供給；ＧＡ０５優先Ｆ ・検出部に試料を供給し続けるもの ・・乾、湿球部への送風 ・試料が移動しているもの；ＧＡ０５優先 ・静荷重、静張力の負荷 ・複数試料の同時測定Ｆ
GB GB00
測定開始、終了、反応促進の為の条件、手段Ｆ 		GB01 GB02 GB03 GB04 GB05 GB06 GB08 GB09
・測定開始条件の設定 ・反応開始、促進手段、方法；ＧＣ０２優先 ・・試料の測定部への投入 ・・加振、超音波加振 ・・試料セルの破壊 ・・その他の特定な手段、方法；ＥＢ０８優先Ｆ ・測定終了条件の設定 ・測定、反応を終了させる手段
GC GC00
測定前後の取扱い 		GC01 GC02 GC03 GC04 GC06 GC07
・試料の調整 ・・反応促進剤、不純物の混入 ・・脱酸素剤の混入 ・・試料の不純物の除去；ＧＣ０３優先 ・装置、検出部の不純物、付着物の除去、洗浄 ・・装置内の脱ガス
HA HA00
信号処理，データの取扱い一般Ｆ 		HA01 HA02 HA03 HA05 HA06 HA07 HA08 HA09 HA10
・表示、報知；ＺＡ０５優先 ・・画像表示に関するもの ・・警報等の報知、表示 ・基準データとの比較Ｆ ・・同一環境下の基準試料；ＨＡ０７優先 ・・反応前後の同一試料，同一材料 ・・メモリデータ ・・・アナログメモリデータ ・・基準データが一定のもの；例，閾値
HA11 HA12 HA13 HA14 HA15 HA16 HA18
・特異点の決定 ・ピーク面積の算出 ・非定常値から定常値の算出 ・キズの長さ、大きさの算出 ・特定のアナログ演算回路 ・特定のデジタル演算処理 ・補正の為の信号処理
ZA ZA00
その他の構成Ｆ 		ZA01 ZA02 ZA03 ZA05 ZA06 ZA07 ZA08 ZA09
・他の分析手段との結合Ｆ ・・熱重量分析 ・・ガスクロマトグラフィー ・データの算出具、表示具 ・・湿度の算出具、表示具 ・装置の校正試験 ・プロセス制御等への適用 ・・空調設備への適用
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