FI(一覧表示)

  • H01J49/00
  • 粒子分析器または粒子分離管[3] HB CC 5C038
  • H01J49/00,040
  • ・イメージング粒子分析 HB CC 5C038
  • H01J49/00,090
  • ・装置の較正 HB CC 5C038
  • H01J49/00,130
  • ・小型化された分析器,例.通常より小さな規模で,従来の部品が集積されたもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,180
  • ・・超小型化された分析器,例.チップ集積装置,マイクロ電気機械システム(MEMS) HB CC 5C038
  • H01J49/00,220
  • ・携帯可能な分析器,例.独立した電源のある装置,携帯性に関する構造的細部(小規模装置そのものH01J49/00,130およびH01J49/00,180) HB CC 5C038
  • H01J49/00,270
  • ・粒子分析器を用いるための方法 HB CC 5C038
  • H01J49/00,310
  • ・・装置の使用に関する段階的な動作(H01J49/00,810が優先) HB CC 5C038
  • H01J49/00,360
  • ・・測定を通じて得られるデータの取り扱いに関する段階的な動作 HB CC 5C038
  • H01J49/00,400
  • ・分析器の組み合わせ,直列に繋げた分析器,例.MS/MS,MSn HB CC 5C038
  • H01J49/00,450
  • ・・断片化または他の特別な反応に特徴のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,500
  • ・・・ガスとの衝突,例.ガスを導入するもの,または電界でイオンの加速するもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,540
  • ・・・電子ビームによるもの,例.電子衝撃解離,電子捕捉解離 HB CC 5C038
  • H01J49/00,590
  • ・・・光子ビーム,光解離によるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,630
  • ・・・共振励起電圧の印加によるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,680
  • ・・・表面の衝突,例.表面に生じる解離,によるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,720
  • ・・・イオン/イオン反応,例.電子移動解離,陽子移動解離,によるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,770
  • ・・・断片化以外の特別な反応 HB CC 5C038
  • H01J49/00,810
  • ・・時間型タンデム,すなわち,単独の分析器を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/00,860
  • ・・加速質量分析器 HB CC 5C038
  • H01J49/00,900
  • ・・多チャネルを有する分析器,並行分析 HB CC 5C038
  • H01J49/00,950
  • ・正負両方の被検体イオンを発生,導入または分析するための特別な装置(イオン/イオン反応H01J49/00,720) HB CC 5C038
  • H01J49/02
  • ・細部[3] HB CC 5C038
  • H01J49/02,200
  • ・・回路装置,例.偏向電流または偏向電圧の発生用 HB CC 5C038
  • H01J49/02,500
  • ・・粒子分析器に特に適合された検出器(データの取得H01J49/00,360)} HB CC 5C038
  • H01J49/02,700
  • ・・・荷電粒子の移動によって引き起こされたイメージ電流の検出器 HB CC 5C038
  • H01J49/04
  • ・・分析材料導入取り出しのための装置,例.真空封止;電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置[3] HB CC 5C038
  • H01J49/04,040
  • ・・・試料またはイオンの伝送に用いるためのキャピラリ(静電噴霧ノズルH01J49/16,700)} HB CC 5C038
  • H01J49/04,090
  • ・・・試料のホルダーまたは容器 HB CC 5C038
  • H01J49/04,130
  • ・・・・自動取り扱い用 HB CC 5C038
  • H01J49/04,180
  • ・・・・レーザー脱離用,例.マトリックス支援レーザーイオン化[MALDI]用,表面強化レーザー脱離イオン化[SELDI]プレート用 HB CC 5C038
  • H01J49/04,220
  • ・・・気体試料用 HB CC 5C038
  • H01J49/04,270
  • ・・・・気体浸透膜を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,310
  • ・・・液体試料用 HB CC 5C038
  • H01J49/04,360
  • ・・・・液体浸透膜を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,400
  • ・・・・分析器の入り口からの液滴を防ぐための手段のあるもの;液滴の脱溶媒和 HB CC 5C038
  • H01J49/04,450
  • ・・・・噴霧,ジェットまたはエアロゾルを導入するための手段のあるもの(静電噴霧イオン源H01J49/16,500) HB CC 5C038
  • H01J49/04,500
  • ・・・・・ネブライザー気体,すなわち,空気圧が利用されたもの,を用いるための手段のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,540
  • ・・・・機械エネルギー,例.超音波振動,を用いて蒸発させるための手段のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,590
  • ・・・固体材料用 HB CC 5C038
  • H01J49/04,630
  • ・・・・レーザーまたは粒子ビームによる脱離,別の段階としてのイオン化が続くもの(材料ホルダーそのものH01J49/04,180) HB CC 5C038
  • H01J49/04,680
  • ・・・材料の加熱または冷却のための手段のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,720
  • ・・・・熱分解のための手段のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,770
  • ・・・・高温流体を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,810
  • ・・・・衝突冷却を用いるための手段 HB CC 5C038
  • H01J49/04,860
  • ・・・・試料の温度を監視するための手段のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/04,900
  • ・・・・試料の脱離に熱を用いるための手段のあるもの;蒸発 HB CC 5C038
  • H01J49/04,950
  • ・・・真空封止;弁 HB CC 5C038
  • H01J49/06
  • ・・電子光学的またはイオン光学的装置(H01J49/04が優先)[3] HB CC 5C038
  • H01J49/06,100
  • ・・・イオン偏向手段,例.イオンゲート HB CC 5C038
  • H01J49/06,200
  • ・・・イオンガイド(質量選択を行う線形イオントラップH01J49/42,250,質量フィルタH01J49/42,100) HB CC 5C038
  • H01J49/06,300
  • ・・・・多重極イオンガイド,例.四重極,六重極 HB CC 5C038
  • H01J49/06,500
  • ・・・・積層電極,例.輪の積層,平板の積層 HB CC 5C038
  • H01J49/06,600
  • ・・・・・イオンの漏斗 HB CC 5C038
  • H01J49/06,700
  • ・・・イオンのレンズ,アパーチャ,スキマー HB CC 5C038
  • H01J49/06,800
  • ・・・電極の取付け,支持,間隔保持,または絶縁 HB CC 5C038
  • H01J49/08
  • ・・電子源,例.光電子,2次電子またはオージェ電子を発生するためのもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/10
  • ・・イオン源;イオン銃[3] HB CC 5C038
  • H01J49/10,200
  • ・・・反射放電を利用するもの,例.ペニングイオン源 HB CC 5C038
  • H01J49/10,500
  • ・・・高周波励起,例.マイクロ波励起,を利用するもの,誘導結合プラズマ[ICP] HB CC 5C038
  • H01J49/10,700
  • ・・・いくつかのイオン源を用いるための装置 HB CC 5C038
  • H01J49/12
  • ・・・アーク放電を利用するもの,例.デュオプラズマ型のもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/12,300
  • ・・・・デュオプラズマトロン HB CC 5C038
  • H01J49/12,600
  • ・・・・印加磁界を用いるその他のアーク放電イオン源 HB CC 5C038
  • H01J49/14
  • ・・・粒子の衝撃を利用するもの,例.電離箱[3] HB CC 5C038
  • H01J49/14,200
  • ・・・・事前に気化していない固体ターゲットを用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/14,500
  • ・・・・化学的なイオン化を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/14,700
  • ・・・・電子を用いるもの,例.電子衝撃イオン化,電子付着(H01J49/14,500が優先) HB CC 5C038
  • H01J49/16
  • ・・・表面電離を利用するもの,例.電界放出,熱放出または光放出[3] HB CC 5C038
  • H01J49/16,100
  • ・・・・光電離を用いるもの,例.レーザによるもの HB CC 5C038
  • H01J49/16,200
  • ・・・・・直接の光電離,例.単一光子または多数光子イオン化 HB CC 5C038
  • H01J49/16,400
  • ・・・・・レーザ脱離/イオン化,例.マトリクス支援レーザ脱離/イオン化[MALDI](材料のホルダーH01J49/04,180) HB CC 5C038
  • H01J49/16,500
  • ・・・・静電噴霧によるイオン化 HB CC 5C038
  • H01J49/16,700
  • ・・・・・そのために特に適合されたキャピラリまたはノズル HB CC 5C038
  • H01J49/16,800
  • ・・・・電界イオン化,例.コロナ放電 HB CC 5C038
  • H01J49/18
  • ・・・スパーク電離を利用するもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/20
  • ・・磁気偏向[3] HB CC 5C038
  • H01J49/22
  • ・・静電偏向[3] HB CC 5C038
  • H01J49/24
  • ・・真空システム,例.所望の圧力を保持するためのもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/26
  • ・質量分析器または質量分離管[3] HB CC 5C038
  • H01J49/28
  • ・・静的分析器[3] HB CC 5C038
  • H01J49/28,200
  • ・・・静電分析器を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/28,400
  • ・・・簡易な集束を備えた静電および磁性セクタを用いるもの,例.アストン分析器のような平行磁場をもつもの HB CC 5C038
  • H01J49/28,600
  • ・・・・エネルギー分析を備えるもの,例.カステンフィルタ HB CC 5C038
  • H01J49/28,800
  • ・・・・・ビームと直交する交差電磁場を用いるもの,例.ウイーンフィルタ HB CC 5C038
  • H01J49/30
  • ・・・磁気的分析器を用いるもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/30,500
  • ・・・・直列ないくつかのセクタのあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/32
  • ・・・二重集束を用いるもの[3] HB CC 5C038
  • H01J49/32,200
  • ・・・・90度の磁気セクタのあるもの,例.マタウチュハーツォグ型 HB CC 5C038
  • H01J49/32,400
  • ・・・・90度の静電セクションのあるもの,例.ニーアジョンソン型 HB CC 5C038
  • H01J49/32,600
  • ・・・・90度の磁気および静電セクタのあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/32,800
  • ・・・・交差電磁場を用いることによる円形軌道のあるもの,例.トロコイド型 HB CC 5C038
  • H01J49/34
  • ・・動的分析器[3] HB CC 5C038
  • H01J49/36
  • ・・・RF分析器,例.ベネット型分析器;レッドヘッド型分析器[3] HB CC 5C038
  • H01J49/38
  • ・・・・オメガトロン[3] HB CC 5C038
  • H01J49/40
  • ・・・飛行時間型分析器(H01J49/36が優先)[3] HB CC 5C038
  • H01J49/40,100
  • ・・・・直交加速,例.イオンの集束または選択,プッシャ電極,に特徴のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/40,300
  • ・・・・加速光学系および/または抽出電界に特徴のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/40,500
  • ・・・・リフレクトロンに特徴のあるもの,例.湾曲電界,電極形状 HB CC 5C038
  • H01J49/40,600
  • ・・・・多重反射を伴うもの(静電捕捉H01J49/42,450) HB CC 5C038
  • H01J49/40,800
  • ・・・・多重の方向変化を伴うもの,例.電気的または磁気的セクタ,閉ループ飛行時間を用いることによるもの HB CC 5C038
  • H01J49/42
  • ・・・走行安定型分析器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン[3] HB CC 5C038
  • H01J49/42,050
  • ・・・・装置型 HB CC 5C038
  • H01J49/42,100
  • ・・・・・質量フィルタ,すなわち,不要なイオンを捕捉せずに偏向させるもの HB CC 5C038
  • H01J49/42,150
  • ・・・・・・四重極質量フィルタ(H01J49/42,250が優先) HB CC 5C038
  • H01J49/42,200
  • ・・・・・二次元RFイオントラップ(質量選択を伴わないイオンガイドH01J49/06,200) HB CC 5C038
  • H01J49/42,250
  • ・・・・・・多重極線形イオントラップ,例.四重極,六重極 HB CC 5C038
  • H01J49/42,300
  • ・・・・・・放射状の放出を伴うもの HB CC 5C038
  • H01J49/42,350
  • ・・・・・・積層された輪または積層された板 HB CC 5C038
  • H01J49/42,400
  • ・・・・・三次元イオントラップ,すなわち,エンドキャップおよび輪状電極からなるもの HB CC 5C038
  • H01J49/42,450
  • ・・・・・静電イオントラップ(H01J49/42,200が優先;多重反射を伴う飛行分析器H01J49/40,600) HB CC 5C038
  • H01J49/42,500
  • ・・・・・・対数的な放射電位を伴うもの,例.オービトラップ HB CC 5C038
  • H01J49/42,550
  • ・・・・・特別な構造的特徴のあるもの HB CC 5C038
  • H01J49/42,600
  • ・・・・イオンを制御するための方法 HB CC 5C038
  • H01J49/42,650
  • ・・・・・捕捉されるイオンの数の制御,空間電荷効果の防止 HB CC 5C038
  • H01J49/42,700
  • ・・・・・放出および選択の方法 HB CC 5C038
  • H01J49/42,750
  • ・・・・・・非共振補助振動電圧の適用,例.パラメータ励振 HB CC 5C038
  • H01J49/42,800
  • ・・・・・・ノッチつき広帯域信号の適用 HB CC 5C038
  • H01J49/42,850
  • ・・・・・・共振信号の適用,例.イオンの永続的周波数に適合する選択的共振放出(H01J49/42,900,H01J49/42,800が優先) HB CC 5C038
  • H01J49/42,900
  • ・・・・・・電気パラメータ,例.電圧振幅または周波数,の走査 HB CC 5C038
  • H01J49/42,950
  • ・・・・・蓄積方法 HB CC 5C038
  • H01J49/44
  • ・エネルギー分析器,例.アルファー線分析器,ベーター線分析器[3] HB CC 5C038
  • H01J49/44,300
  • ・・動的分析器 HB CC 5C038
  • H01J49/44,600
  • ・・・飛行時間型分析器 HB CC 5C038
  • H01J49/46
  • ・・静的分析器[3] HB CC 5C038
  • H01J49/46,300
  • ・・・静磁界を用いるもの HB CC 5C038
  • H01J49/46,600
  • ・・・ビームに直交する交差電磁界を用いるもの,例.ウイーンフィルタ(H01J49/28,800も参照) HB CC 5C038
  • H01J49/48
  • ・・・静電分析器を用いるもの,例.円筒形分離器,ウイーンフィルター[3] HB CC 5C038
  • H01J49/48,200
  • ・・・・円筒状反射鏡を備えたもの HB CC 5C038
  • H01J49/48,400
  • ・・・・球面反射鏡を備えたもの HB CC 5C038
  • H01J49/48,600
  • ・・・・平面反射鏡,すなわち,均一電界,を備えたもの HB CC 5C038
  • H01J49/48,800
  • ・・・・減速グリッドを備えたもの HB CC 5C038
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