FI(一覧表示)

  • G01Q30/00
  • 走査プローブ技術または装置の補助または改良に資する補助的手段,例.表示装置またはデータ処理装置[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/02
  • ・非SPM分析装置,例.SEM[走査型電子顕微鏡],分光計または光学顕微鏡[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/04
  • ・表示装置またはデータ処理装置[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/06
  • ・・エラー補償のためのもの[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/08
  • ・サンプルチェンバー内に所望の環境条件を確立し調節するための手段[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/10
  • ・・温度環境[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/12
  • ・・流体環境[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/14
  • ・・・液体環境[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/16
  • ・・真空環境[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/18
  • ・外部の環境条件または影響からサンプルチェンバーの内部を保護しあるいは隔離するための手段[2010.01] HB CC 2G580
  • G01Q30/20
  • ・試料の取扱装置または手段[2010.01] HB CC 2G580
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