FI(一覧表示)

G01N24/00	核磁気共鳴，電子常磁性共鳴または他のスピン効果の使用による材料の調査または分析［３，４，５］	HB	CC	2G044

G01N24/00@B	コンピュータ利用，例．システム構築	HB	CC	2G044

G01N24/00@C	他の分析機器との結合	HB	CC	2G044

G01N24/00@D	応用	HB	CC	2G044

G01N24/00@E	・磁力計	HB	CC	2G044

G01N24/00@P	・・オプティカルポンピングを用いるもの	HB	CC	2G044

G01N24/00@G	・ＥＳＲによるもの	HB	CC	2G044

G01N24/00@T	ＮＱＲ	HB	CC	2G044

G01N24/00@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,100	・細部	HB	CC	2G044

G01N24/00,100@A	標準試料，例．ファントムまたはロック用	HB	CC	2G044

G01N24/00,100@B	シフト試薬，例．造影剤またはコントラスト剤	HB	CC	2G044

G01N24/00,100@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,100@Z	その他，例．防振または防音	HB	CC	2G044

G01N24/00,510	・・試料の取扱い	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@A	試料管	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@B	・タービン	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@C	・・回転調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@D	試料導入（ＥＳＲ特有のものＧ０１Ｎ２４／１０　５１０Ａ）	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@E	・位置決め	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@F	温度調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,510@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,520	・・記録；表示	HB	CC	2G044

G01N24/00,520@A	表示；出力手段	HB	CC	2G044

G01N24/00,520@B	・多次元ＮＭＲ用	HB	CC	2G044

G01N24/00,520@L	記録；記憶手段	HB	CC	2G044

G01N24/00,520@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,520@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,530	・・信号処理	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@A	サンプリング，例．Ａ／Ｄ変換	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@B	データ補正	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@C	・Ｓ／Ｎ改善	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@D	・・積算	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@E	・・反転加算	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@F	・ベースライン補正	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@G	データ処理，例．演算手法または処理手順	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@H	・フーリエ変換	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@J	スペクトル同定，例．ピーク検出	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@K	・化学シフトに関するもの，例．構造解析	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@L	・不要ピーク除去	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@M	・多次元ＮＭＲ用	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,530@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,540	・・遮蔽，すなわちシールド	HB	CC	2G044

G01N24/00,540@A	主磁場の遮蔽	HB	CC	2G044

G01N24/00,540@B	高周波磁場の遮蔽	HB	CC	2G044

G01N24/00,540@Y	傾斜磁場の遮蔽	HB	CC	2G044

G01N24/00,540@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,550	・・探針	HB	CC	2G044

G01N24/00,560	・・・プロ－ブ，例．高周波励起または検出システム	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@A	電子常磁性共鳴［ＥＳＲ］用	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@B	複数試料用	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@C	多核種用	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@D	二重共鳴用	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@E	検定；較正	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@F	コイルまたは回路の配置	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@G	温度調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,560@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,570	・・・・構造的細部	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@A	共振器，例．コイル	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@B	・表面コイルからなるもの	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@C	・・サブコイルの配列からなるもの	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@D	・スリットを有するものまたはループキャップ型のもの	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@E	・導波管型のもの，例．空洞共振器	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@G	・・外部照射手段を有するもの	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@H	共振器の機械的調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,570@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,580	・・・・電気的細部	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@A	送受信回路	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@B	・送信回路	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@C	・受信回路	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@D	・・直交コイル型	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@E	送受信分離	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@F	同調調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@G	二重同調	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@H	共振器との整合，すなわちインピーダンスマッチング	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@J	利得調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@K	温度補償	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,580@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,590	・・磁場の発生，均質化または安定化（磁気的変量の調整一般Ｇ０５Ｆ７／００；電磁石一般Ｈ０１Ｆ７／０６）	HB	CC	2G044

G01N24/00,600	・・・主磁場または傾斜磁場の発生	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@A	電磁石	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@B	・コイル	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@C	・・超電導コイル	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@D	・・・冷却手段，例．クライオスタット	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@H	・制御系，例．電源	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@P	永久磁石	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@Q	・磁極片，例．ポールピース	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@R	・・材質；製法	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@Y	傾斜磁場コイル，例．ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,600@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,610	・・・主磁場または傾斜磁場の不均一性の補償または調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@A	機械的な補償または調整	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@E	強磁性体を用いるもの，例．受動シム	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@J	補正コイルを用いるもの，例．能動シム	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@K	・補正コイルの制御	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,610@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/00,620	・・・主磁場または傾斜磁場の安定化	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@A	ＮＭＲ信号による磁場ロック	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@B	・細部	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@C	・内部ロック	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@D	・外部ロック	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@E	・内部および外部ロック切替	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@F	・ＦＩＤの利用	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@M	磁場測定手段を有するもの	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@Q	温度補償	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@R	温度調整（超電導コイル冷却手段Ｇ０１Ｎ２４／００　６００Ｄ）	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/00,620@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/08	・核磁気共鳴を用いることによるもの（Ｇ０１Ｎ２４／１２が優先）［３］	HB	CC	2G044

G01N24/08,510	・・測定手法	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@A	ＣＷ法	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@B	ＦＴ―ＣＷ法	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@C	パルスＦＴ法	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@D	・特有の測定法，例．パルスシーケンス	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@E	・・高周波磁場強度勾配	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@F	・直角位相検波［Ｑ．Ｄ．］	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@L	緩和時間の測定	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@M	複数試料観測系	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@N	定量；定性	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@P	・特定物質の定量，選別または評価	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@Q	・・生物学的試料用，すなわちインビトロ	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@R	磁場または周波数の掃引	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@S	固体ＮＭＲ	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/08,510@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/08,520	・・測定パラメ－タの設定または調整	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@A	励起用高周波の生成	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@B	・定常応答の防止，例．残留シグナル抑制	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@C	・複数周波数混合	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@G	励起用高周波の構成，例．位相シーケンス	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@H	・広帯域パルス，例．ランダム変調	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@L	励起用高周波の調整または補正	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@M	・位相に関するもの	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@R	主磁場である分極磁界の調整，例．変調	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@S	・不均一化，例．ホモスポイル	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@Y	ＭＲＩ	HB	CC	2G044

G01N24/08,520@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/10	・電子常磁性共鳴を用いることによるもの［３］	HB	CC	2G044

G01N24/10,510	・・測定手法	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@A	試料導入；標準試料	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@D	掃引，例．周波数または磁場の掃引	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@G	検波	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@L	電子スピン共鳴［ＥＳＲ］特有の測定方法またはシステム	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@M	・外部照射	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@R	定量；定性，例．定量用標準試料の配置	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@S	・特定物質の定量または評価	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@Y	撮像システム	HB	CC	2G044

G01N24/10,510@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/10,520	・・測定パラメ－タの設定または調整	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@A	励起用マイクロ波の生成，例．マイクロ波源	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@B	・変調	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@C	・・パルス変調	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@G	励起用マイクロ波の調整または補正，例．位相調整	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@H	・マイクロ波ブリッジ，例．サーキュレータ	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@J	・自動周波数制御［ＡＦＣ］	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@P	磁場調整	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@T	温度調整	HB	CC	2G044

G01N24/10,520@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/12	・二重共鳴を用いることによるもの［３］	HB	CC	2G044

G01N24/12,510	・・測定手法（記録，表示または信号処理Ｇ０１Ｎ２４／０２）	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@A	多重共鳴特有の測定方法またはシステム，例．パルスシーケンス	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@B	・ＥＮＤＯＲ	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@C	・多次元ＮＭＲ	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@G	デカップリング	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@E	・ゲートデカップリング，例．観測時のみデカップリングＲＦ照射するもの	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@L	交差分極法，すなわちクロスポーラリゼーション［Ｃ．Ｐ．］	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@P	定量；定性	HB	CC	2G044

G01N24/12,510@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/12,520	・・第二高周波	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@A	発生，例．ランダム変調またはノイズ変調	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@B	・周波数変調，例．低周波変調	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@C	・位相変調	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@G	調整；周波数設定	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@E	・周波数掃引	HB	CC	2G044

G01N24/12,520@Z	その他	HB	CC	2G044

G01N24/14	・サイクロトロン共鳴を用いることによるもの［３］	HB	CC	2G044

G01N24/14@A	サイクロトロン共鳴自体によるもの	HB	CC	2G044

G01N24/14@B	イオン源として用いるもの	HB	CC	2G044

G01N24/14@Z	その他	HB	CC	2G044

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