このページは、メイングループH10P74/00内の「IPC」を全て表示しています。 CC:コンコーダンス IPCセクション選択に戻る 一階層上へ H10P74/00 ウェハ，基板または装置の製造または処理中の試験または測定［２０２６．０１］ CC H10P74/20 ・試験される，または測定される特性に特徴のあるもの，例．構造的または電気的特性［２０２６．０１］ CC TOP
H10P74/00 ウェハ，基板または装置の製造または処理中の試験または測定［２０２６．０１］ CC H10P74/20 ・試験される，または測定される特性に特徴のあるもの，例．構造的または電気的特性［２０２６．０１］ CC