IPC(一覧表示)

G11C29/00	正確な動作のための記憶装置のチェック；スタンバイまたはオフライン動作中の記憶装置のテスト［１，８］	CC
G11C29/02	・故障した周辺回路の検出またはその位置の特定［８］	CC
G11C29/04	・故障したメモリ素子の検出またはその位置の特定［８］	CC
G11C29/06	・・加速試験［８］	CC
G11C29/08	・・機能試験，例．リフレッシュ中の試験，パワーオン・セルフテスト［ＰＯＳＴ］，または分散テスト［８］	CC
G11C29/10	・・・テストアルゴリズム，例．メモリスキャン［ＭＳｃａｎ］アルゴリズム；テストパターン，例．チェックボードパターン［８］	CC
G11C29/12	・・・試験のための組み込み装置，例．組み込み自己テスト［ＢＩＳＴ］［８］	CC
G11C29/14	・・・・制御データの実施，例．テストモードのデコーダー［８］	CC
G11C29/16	・・・・・マイクロプログラム方式のユニットを使用するもの，例．ステートマシン［８］	CC
G11C29/18	・・・・アドレス作成装置；メモリにアクセスするための装置，例．アドレス回路の細部［８］	CC
G11C29/20	・・・・・カウンタまたは線形フィードバックシフトレジスタ［ＬＦＳＲ］を使用するもの［８］	CC
G11C29/22	・・・・・シリアルメモリへアクセスするもの［８］	CC
G11C29/24	・・・・・補助的なセルへアクセスするもの，例．ダミーセルまたは冗長セル［８］	CC
G11C29/26	・・・・・マルチプルアレイへアクセスするもの（Ｇ１１Ｃ２９／２４が優先）［８］	CC
G11C29/28	・・・・・・依存関係のあるマルチプルアレイ，例．マルチビットを持つアレイ［８］	CC
G11C29/30	・・・・・シングルアレイへアクセスするもの［８］	CC
G11C29/32	・・・・・・シリアルアクセス；スキャンテスト［８］	CC
G11C29/34	・・・・・・マルチビットに同時にアクセスするもの［８］	CC
G11C29/36	・・・・データ作成装置，例．データ変換器［８］	CC
G11C29/38	・・・・応答検証装置［８］	CC
G11C29/40	・・・・・圧縮技術を使用するもの［８］	CC
G11C29/42	・・・・・誤り訂正符号［ＥＣＣ］またはパリティチェックを使用するもの［８］	CC
G11C29/44	・・・・誤りの表示または識別，例．復旧のためのもの［８］	CC
G11C29/46	・・・・テストトリガーロジック［８］	CC
G11C29/48	・・・記憶装置の外部の手段による試験に特に適した静的記憶装置，例．ダイレクトメモリアクセス［ＤＭＡ］を使用するもの，または周辺アクセス経路を使用するもの［２００６．０１］	CC
G11C29/50	・・マージン試験，例．タイミング，電圧，または電流試験［８］	CC
G11C29/52	・メモリ内容の保護；メモリ内容の誤りの検出［８］	CC
G11C29/54	・試験回路を設計するための装置，例．テスト容易化設計［ＤＦＴ］ツール［８］	CC
G11C29/56	・静的記憶のための外部試験装置，例．自動検査装置［ＡＴＥ］；そのインターフェース［８］	CC