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CC:コンコーダンス |
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| グループＧ０１Ｎ３／００～Ｇ０１Ｎ１７／００，Ｇ０１Ｎ２１／００またはＧ０１Ｎ２２／００に包含されない波動性または粒子性放射線，例．Ｘ線，中性子線，の使用による材料の調査または分析 | 定義 | CC | |
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| ・放射線の材料透過によるもの | CC | ||
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| ・・さらに材料の画像を形成するもの［２０１８．０１］ | 定義 | CC | |
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| ・・・位相コントラストイメージング，例．格子干渉計を用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・ラミノグラフィまたはトモシンセシスを用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・トモグラフィーを用いるもの，例．コンピュータ断層撮影［ＣＴ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・中性子線を用いるもの［３］ | CC | ||
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| ・・さらに吸収を測定するもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・放射線がＸ線であるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・Ｘ線吸収微細構造［ＸＡＦＳ］，例．広域Ｘ線吸収微細構造［ＥＸＡＦＳ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・多エネルギーＸ線を用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・放射線が中性子線であるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・ガンマ線共鳴吸収，例．メスバウアー効果を用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・容器内に封入された材料，例．手荷物のＸ線検査［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・材料が流れている流体または流れている粒状固体［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・材料が移動するシートまたはフィルム［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・欠陥または異物の調査［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・材料による放射線の回折の利用によるもの，例．結晶構造の調査のためのもの；材料による放射線の散乱の利用によるもの，例．非結晶構造の調査のためのもの；材料による放射線の反射の利用によるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・分析機器の構造の細部，例．Ｘ線源，検出器または光学系に特徴のあるもの；付属品；試料調製（結晶を用いたＸ線モノクロメーターＧ２１Ｋ１／０６）［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・ゴニオメータ［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・そのための試料ホルダまたは試料支持部材［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・温度制御または加熱手段を備えるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・高圧試験のためのもの，例．アンビルセル［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・そのための粉末試料の調製［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・電子回折の測定，例．低エネルギー電子線回折［ＬＥＥＤ］法または反射高速電子線回折［ＲＨＥＥＤ］法［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・ガンマ線の非弾性散乱の測定，例．コンプトン効果［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・回折放射線のエネルギー分散スペクトル［ＥＤＳ］の測定［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・小角散乱の測定，例．小角Ｘ線散乱［ＳＡＸＳ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・中性子線を用いるもの［３］ | CC | ||
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| ・・後方散乱の測定［２］ | CC | ||
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| ・・・中性子線を用いるもの［３］ | CC | ||
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| ・・回折カメラを用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・回折パターンの分析［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・回折法，例．プローブを中心として１以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの［２０１８．０１］ | 定義 | CC | |
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| ・材料からの二次放射の測定によるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・そのための試料調製［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・そのための試料支持部材，そのための試料搬送手段［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・二つ以上の測定の組み合わせるものであって，少なくとも一つの二次放射測定を伴うもの，例．二次電子［ＳＥ］測定と後方散乱電子［ＢＳＥ］測定の組み合わせ［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・すべての測定が二次放射測定のもの，例．ＳＥ測定と特性Ｘ線測定の組み合わせ［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・波長分散型分光法［ＷＤＳ］を用いるもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・放射化分析によるもの［２］ | CC | ||
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| ・・・中性子放射化分析［ＮＡＡ］を用いるもの［３］ | CC | ||
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| ・・Ｘ線またはガンマ線を試料に照射して蛍光Ｘ線を測定するもの［２］ | CC | ||
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| ・・電子またはイオンマイクロプローブを用いるもの［２０１８．０１］ | 定義 | CC | |
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| ・・・電子ビームを入射するもの，例．走査型電子顕微鏡［ＳＥＭ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・放射されたＸ線の測定，例．電子線マイクロアナライザ［ＥＰＭＡ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・カソードルミネセンスの測定［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・イオンビーム，例．陽子ビーム，を入射するもの［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・励起されたＸ線の測定，すなわち粒子線励起Ｘ線分析［ＰＩＸＥ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・・二次イオン放射の測定，例．二次イオン質量分析［ＳＩＭＳ］（材料分析のためのＳＩＭＳの質量電荷比を分析する観点Ｇ０１Ｎ２７／６２）［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・光電効果の測定，例．光電子顕微鏡［ＰＥＥＭ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・光電子スペクトルの測定，例．Ｘ線光電子分光法［ＥＳＣＡ］または［ＸＰＳ］［２０１８．０１］ | CC | ||
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| ・・・オージェ効果を用いるもの，例．オージェ電子分光法［ＡＥＳ］［２０１８．０１］ | CC |