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CC:コンコーダンス |
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| 光学的技術の使用によって特徴づけられた測定計器［２００６．０１］ | CC | ||
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| ・干渉計［２０２２．０１］ | 定義 | CC | |
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| ・・放射に固有の特性の制御または生成に特徴のあるもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・２つ以上の異なる周波数を用いるもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・・ビート周波数を用いるもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・・周波数走査によるもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・光路の構成に特徴があるもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・標的物と光ビーム群の間に複数の相互作用があるもの，例．異なる位置から発生するビーム反射［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・・マルチパス干渉計，例．ダブルパス干渉計［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・エラーの低減または防止；試験するもの；較正［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・エラーの受動的低減［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・・傾きまたは位置ずれによる影響の低減または防止［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・低コヒーレンス干渉計［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・断層撮影干渉計，例．光学的コヒーレンスに基づくもの［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・自己干渉計［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・・シアリング干渉計［２０２２．０１］ | CC | ||
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| ・・ホログラフィ技術によるもの［２］ | CC | ||
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| ・・・等高線作成用（Ｇ０１Ｂ９／０２５～Ｇ０１Ｂ９／０２９が優先）［２］ | CC | ||
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| ・・・二重露光方式［２］ | CC | ||
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| ・・・実時間式［２］ | CC | ||
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| ・・・時間平均式［２］ | CC | ||
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| ・測定用顕微鏡 | CC | ||
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| ・測定用望遠鏡 | CC | ||
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| ・光投影式コンパレータ | CC | ||
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| ・複数の面の間の角度測定用ゴニオメータ | CC |