このページは、メイングループG01B15/00内の「IPC」を全て表示しています。 CC:コンコーダンス IPCセクション選択に戻る 一階層上へ G01B15/00 電磁波または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置，例．マイクロ波，Ｘ線，ガンマ線または電子の使用によるもの（光学的技術の使用によって特徴づけられたものＧ０１Ｂ９／００，Ｇ０１Ｂ１１／００）［２００６．０１］ CC G01B15/02 ・厚み測定用 CC G01B15/04 ・輪郭または曲率の測定用 CC G01B15/06 ・固体の変形測定用 CC G01B15/08 ・表面の粗さ，または不規則性の測定用［６］ CC TOP
G01B15/00 電磁波または粒子性放射線の使用によって特徴づけられた測定装置，例．マイクロ波，Ｘ線，ガンマ線または電子の使用によるもの（光学的技術の使用によって特徴づけられたものＧ０１Ｂ９／００，Ｇ０１Ｂ１１／００）［２００６．０１］ CC G01B15/02 ・厚み測定用 CC G01B15/04 ・輪郭または曲率の測定用 CC G01B15/06 ・固体の変形測定用 CC G01B15/08 ・表面の粗さ，または不規則性の測定用［６］ CC