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This page displays all 「IPC」 in main group G01R33/00. |
CC:Concordance |
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| 磁気的変量を測定する計器または装置 | CC | ||
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| ・磁界または磁束の方向または大きさの測定（Ｇ０１Ｒ３３／２０が優先）［４］ | Definition | CC | |
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| ・・傾度の測定［３］ | CC | ||
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| ・・浮遊磁界の補償［３］ | CC | ||
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| ・・電気力学的磁力計［３］ | CC | ||
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| ・・磁気光学装置，例．ファラデー，を使用するもの［３］ | CC | ||
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| ・・超電導装置を使用するもの［３］ | CC | ||
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| ・・永久磁石を使うもの，例．天秤，ねじり装置［３］ | CC | ||
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| ・・フラックスゲート法を使うもの | CC | ||
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| ・・・薄膜素子によるもの［３］ | CC | ||
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| ・・電流磁気装置を使用するもの | CC | ||
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| ・・・ホール効果装置を使用するもの［６］ | Definition | CC | |
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| ・・・磁気抵抗装置を使用するもの［６］ | Definition | CC | |
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| ・・磁界分布をプロットするもの | CC | ||
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| ・物品または固体もしくは流体の標本の磁気的性質の測定（磁気共鳴を含むものＧ０１Ｒ３３／２０）［４］ | CC | ||
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| ・・ヒステリシスカーブの測定またはプロット | CC | ||
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| ・・磁化率の測定 | CC | ||
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| ・・磁歪特性の測定 | CC | ||
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| ・磁気共鳴をともなうもの（医療用Ａ６１Ｂ５／０５５；磁気共鳴ジャイロメータＧ０１Ｃ１９／６０）［４，５］ | CC | ||
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| ・・磁界または磁束の方向または大きさを測定するためのもの［４］ | CC | ||
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| ・・・オプティカルポンピングを使用するもの［４］ | CC | ||
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| ・・グループＧ０１Ｒ３３／４４～Ｇ０１Ｒ３３／６４に分類される装置の細部［５］ | CC | ||
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| ・・・試料取扱い装置，例．試料セル，回転機構［５］ | CC | ||
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| ・・・・その温度制御［６］ | CC | ||
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| ・・・励起または検出システム，例．高周波を使用するもの［５］ | CC | ||
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| ・・・・構造的細部，例．共振器［５］ | CC | ||
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| ・・・・・表面コイルからなるもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・・・サブコイルの配列からなるもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・・スリットを有するものまたはループギャップ型のもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・・導波管型のもの（Ｇ０１Ｒ３３／３４３が優先）［６］ | CC | ||
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| ・・・・電気的細部，例．コイルと受信器との整合または結合［５］ | CC | ||
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| ・・・主磁場または傾斜磁場の発生，均質化または安定化のためのシステム［５］ | CC | ||
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| ・・・・電磁石を使用するもの［６］ | Definition | CC | |
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| ・・・・・超電導コイルを有するもの，例．そのための電源［６］ | Definition | CC | |
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| ・・・・永久磁石を使用するもの［６］ | Definition | CC | |
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| ・・・・傾斜磁場コイルを使用するもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・磁場の不均一性の補償［６］ | Definition | CC | |
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| ・・・・・強磁性体を使用するもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・・補正コイル組み立て体を用いるもの，例．能動シム［６］ | CC | ||
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| ・・・・磁場の安定化［６］ | CC | ||
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| ・・・遮蔽［５，６］ | Definition | CC | |
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| ・・・・主磁場または傾斜磁場の遮蔽［６］ | CC | ||
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| ・・・・高周波磁場の遮蔽［６］ | CC | ||
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| ・・核磁気共鳴［ＮＭＲ］を用いるもの（Ｇ０１Ｒ３３／２４，Ｇ０１Ｒ３３／６２が優先）［５］ | CC | ||
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| ・・・ＮＭＲ分光計［５］ | CC | ||
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| ・・・・生物学的材料に適用するもの，例．ガラス器内での試験，すなわちインビトロ［６］ | CC | ||
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| ・・・ＮＭＲ画像システム［５］ | CC | ||
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| ・・・・特定の体積領域からの信号またはスペクトルを選択するもの，例．生体分光，すなわちインビボ［６］ | CC | ||
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| ・・・・・化学シフト情報に基づくもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・緩和時間の測定に基づくもの［５］ | CC | ||
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| ・・・・信号処理システム，例．パルスシーケンス［５］ | CC | ||
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| ・・・・・画像の強調または補正，例．減算または平均化技術［５］ | CC | ||
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| ・・・・・・走査時間の減少によるもの，すなわち，高速データ収集システム，例．エコープレーナーパルスシーケンス［６］ | CC | ||
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| ・・・・・・移動物質の画像の強調または補正，例．血管強調造影，すなわちアンギオグラフィー［６］ | CC | ||
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| ・・・・・・画像歪曲の補正，例．磁場の不均一性によるもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・・・生理的信号によりゲート制御するもの［６］ | CC | ||
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| ・・・・画像システムの校正，例．テスト探針を使用するもの［５］ | CC | ||
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| ・・電子常磁性共鳴を用いるもの（Ｇ０１Ｒ３３／２４，Ｇ０１Ｒ３３／６２が優先）［５］ | CC | ||
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| ・・二重共鳴を用いるもの（Ｇ０１Ｒ３３／２４が優先）［５］ | CC | ||
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| ・・サイクロトロン共鳴を用いるもの（Ｇ０１Ｒ３３／２４が優先）［５］ | CC |