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| 2G017 | 磁気的変量の測定 | 電気測定 |
| G01R33/00 -33/26 | ||
| G01R33/00-33/18 | AA | AA00 測定磁気量 |
AA01 | AA02 | AA03 | AA04 | AA05 | AA06 | AA07 | AA08 | AA09 | AA10 |
| ・磁界 | ・・強さ | ・・方向 | ・磁束 | ・・量 | ・・方向 | ・・磁束密度 | ・磁気量の分布 | ・起磁力 | ・磁気抵抗 | |||
| AA11 | AA12 | AA13 | AA14 | AA15 | AA16 | |||||||
| ・磁位差 | ・極性 | ・磁場の種類 | ・・直流 | ・・交流 | ・・地球 | |||||||
| AB | AB00 誤差要図 |
AB01 | AB02 | AB03 | AB04 | AB05 | AB06 | AB07 | AB08 | AB09 | ||
| ・浮遊磁界 | ・・地磁気 | ・・残留磁気 | ・防害電界 | ・温度 | ・振動 | ・検出手段特有の誤差 | ・回路要素の誤差 | ・オフセット誤差 | ||||
| AC | AC00 検出手段の周辺装置 |
AC01 | AC02 | AC03 | AC04 | AC05 | AC06 | AC07 | AC08 | AC09 | ||
| ・磁気シールド | ・浮遊磁界の消去 | ・電界シールド | ・温度対策 | ・防振 | ・ケーシング，支持手段 | ・導磁束，集磁束手段 | ・プローブ | ・バイアス磁界の付加 | ||||
| AD | AD00 検出手段 |
AD01 | AD02 | AD03 | AD04 | AD05 | AD06 | AD07 | AD08 | AD10 | ||
| ・電磁誘導法 | ・・サーチコイル | ・・・構造 | ・・・・コイル | ・・・・コア | ・・・磁束計 | ・・・回転コイル形 | ・・・衝撃検流計 | ・電気力学効果 | ||||
| AD11 | AD12 | AD13 | AD14 | AD15 | AD17 | AD18 | AD20 | |||||
| ・磁気光学効果 | ・・ファラデー効果 | ・・カー効果 | ・・素子の構造 | ・・周辺光学回路 | ・荷電粒子の偏向 | ・・電子ビーム | ・磁性体の付着 | |||||
| AD21 | AD22 | AD23 | AD24 | AD27 | AD28 | AD29 | ||||||
| ・永久磁石を用いるもの | ・・磁力計 | ・・・偏位法 | ・・・振動周期法 | ・磁気発振素子 | ・・磁気ワイヤ | ・・・ウィーガンドワイヤ | ||||||
| AD31 | AD32 | AD33 | AD34 | AD35 | AD36 | AD37 | AD38 | AD39 | AD40 | |||
| ・超伝導装置の利用 | ・・ＳＱＵＩＤ | ・・・構造 | ・・・・ｄｃ―ＳＱＵＩＤ | ・・・・ｒｆ―ＳＱＵＩＤ | ・・・・ジャンクションの形 | ・・・・・ポイントコンタクト | ・・・・・ブリッジ型 | ・・・・・トンネル型 | ・・・測定回路 | |||
| AD41 | AD42 | AD43 | AD44 | AD45 | AD46 | AD47 | AD48 | AD49 | ||||
| ・倍周波磁気変調 | ・・フラックスゲート型 | ・・磁性薄膜 | ・・・磁性ワイヤ | ・・構造 | ・・・コア，薄膜 | ・・・コイル | ・・・励磁界と平行なもの | ・・・励磁界と直交するもの | ||||
| AD51 | AD52 | AD53 | AD54 | AD55 | AD56 | AD57 | AD58 | AD59 | AD60 | |||
| ・電流磁気効果 | ・・ホール効果 | ・・・ホール素子 | ・・磁気抵抗効果 | ・・・磁気抵抗効果素子 | ・・構成 | ・・・ダイオード | ・・・トランジスタ | ・・・複合素子 | ・・材質 | |||
| AD61 | AD62 | AD63 | AD64 | AD65 | AD66 | AD69 | ||||||
| ・・・半導体 | ・・・金属 | ・・・磁性体 | ・・形態 | ・・・薄膜 | ・・・バルク | ・その他の磁気効果 | ||||||
| BA | BA00 測定システムの回路要素 |
BA01 | BA02 | BA03 | BA04 | BA05 | BA06 | BA07 | BA08 | BA09 | BA10 | |
| ・励磁電源 | ・・直流 | ・・交流 | ・・・直流の重畳 | ・検出回路 | ・・偏位法 | ・・補償法 | ・・零位法 | ・・・ブリッジ法 | ・補償回路 | |||
| BA11 | BA12 | BA13 | BA14 | BA15 | BA16 | BA17 | BA18 | |||||
| ・変換演算回路 | ・・復調 | ・・検波 | ・伝送回路 | ・データ処理回路 | ・記録表示回路 | ・・自動記録 | ・・画面表示 | |||||
| G01R33/12-33/18 | CA | CA00 測定磁気特性 |
CA01 | CA02 | CA03 | CA04 | CA05 | CA06 | CA07 | CA08 | CA09 | CA10 |
| ・磁化の測定 | ・・磁化曲線 | ・・・ヒステリシス | ・・保磁力 | ・・残留磁化 | ・・飽和磁化 | ・・・角形比 | ・・磁化率 | ・・透磁率 | ・磁気異方性 | |||
| CA11 | CA12 | CA13 | CA14 | CA15 | CA17 | CA18 | CA19 | CA20 | ||||
| ・磁歪特性 | ・磁区の観察 | ・電流磁気特性 | ・磁気光学特性 | ・超伝導特性 | ・鉄損 | ・・ヒステリシス損 | ・・渦電流損 | ・高周波磁気特性 | ||||
| CA21 | CA22 | CA24 | CA26 | CA27 | CA28 | CA29 | ||||||
| ・・実効抵抗 | ・・インダクタンス | ・キュリー点 | ・録再特性 | ・・欠陥 | ・・エラー | ・・ノイズ | ||||||
| CB | CB00 試料 |
CB01 | CB02 | CB03 | CB04 | CB05 | CB06 | CB07 | CB08 | CB10 | ||
| ・形態 | ・・固体 | ・・・剛体 | ・・・粉体 | ・・流体 | ・・・液体 | ・・・気体 | ・・構造物 | ・材質 | ||||
| CB11 | CB12 | CB13 | CB14 | CB15 | CB16 | CB17 | CB18 | CB20 | ||||
| ・・金属 | ・・合金 | ・・化合物 | ・・酸化物 | ・・強磁性体 | ・・・鋼材 | ・・・フェライト | ・・・永久磁石 | ・形状 | ||||
| CB21 | CB22 | CB23 | CB24 | CB26 | CB27 | CB28 | CB29 | |||||
| ・・環状 | ・・棒状 | ・・板状 | ・・薄膜状 | ・磁気記録媒体 | ・・テープ | ・・ディスク | ・・ドラム | |||||
| CC | CC00 測定条件 |
CC01 | CC02 | CC03 | CC04 | CC06 | CC07 | CC08 | ||||
| ・磁化方法 | ・・交流 | ・・直流 | ・・バイアス付加 | ・温度 | ・振動 | ・応力 | ||||||
| CD | CD00 測定手段 |
CD01 | CD02 | CD03 | CD04 | CD05 | CD06 | CD07 | CD08 | CD09 | CD10 | |
| ・衝撃検流計法 | ・磁束計法 | ・磁力計法 | ・透磁率計法 | ・熱量計法 | ・電力計法 | ・・エプスタイン試験装置 | ・交流ヒステリシスループ法 | ・ベクトルメータ法 | ・引力による方法 | |||
| CD11 | CD12 | CD13 | CD14 | |||||||||
| ・Ｑメータ法 | ・交流ブリッジ法 | ・ストレーンゲージ法 | ・粉末図形法 |