| FI | タイトル | 付与開始時期 |
|---|---|---|
| G01Q 10/00 | 走査または位置決め装置，すなわち，プローブの動きあるいは位置を積極的に制御するための装置［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 10/02 | ・粗動走査または粗動位置決め［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 10/02,101 | ・・圧電素子を用いたもの | 2010年11月 |
| G01Q 10/02,111 | ・・それらのための回路またはアルゴリズム | 2010年11月 |
| G01Q 10/04 | ・微動走査または微動位置決め［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 10/04,101 | ・・圧電素子を用いたもの | 2010年11月 |
| G01Q 10/06 | ・・それらのための回路またはアルゴリズム［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 20/00 | プローブの動きまたは位置の監視［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 20/02 | ・光学的手段によるもの［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 20/04 | ・自己検知プローブ，すなわち，プローブ自身がその位置を示すような信号を発するもの，例．圧電ゲージ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/00 | 走査プローブ技術または装置の補助または改良に資する補助的手段，例．表示装置またはデータ処理装置［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/02 | ・非ＳＰＭ分析装置，例．ＳＥＭ［走査型電子顕微鏡］，分光計または光学顕微鏡［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/04 | ・表示装置またはデータ処理装置［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/06 | ・・エラー補償のためのもの［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/08 | ・サンプルチェンバー内に所望の環境条件を確立し調節するための手段［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/10 | ・・温度環境［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/12 | ・・流体環境［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/14 | ・・・液体環境［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/16 | ・・真空環境［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/18 | ・外部の環境条件または影響からサンプルチェンバーの内部を保護しあるいは隔離するための手段［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 30/20 | ・試料の取扱装置または手段［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 40/00 | キャリブレーション，例．プローブのキャリブレーション［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 40/02 | ・キャリブレーションの基準またはその製造方法［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/00 | 特定の型のＳＰＭ［走査プローブ型顕微鏡］またはそのための装置；その基本的な構成部品［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/00,101 | ・プローブの特性 | 2010年11月 |
| G01Q 60/02 | ・マルチタイプＳＰＭ，すなわち２つまたはそれ以上のＳＰＭ技術を使用するもの［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/04 | ・・ＳＴＭ［走査型トンネル顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/06 | ・・ＳＮＯＭ［近視野光学顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/08 | ・・ＭＦＭ［磁気力顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/10 | ・ＳＴＭ［走査型トンネル顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＴＭ用プローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/12 | ・・ＳＴＳ［走査型トンネルスペクトロスコピー］［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/14 | ・・ＳＴＰ［走査型トンネルポテンショメトリー］［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/16 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/16,101 | ・・・プローブの特性 | 2010年11月 |
| G01Q 60/16,111 | ・・・プローブの製造 | 2010年11月 |
| G01Q 60/18 | ・ＳＮＯＭ［近視野光学顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＮＯＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/20 | ・・蛍光［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/22 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/22,101 | ・・・プローブの特性 | 2010年11月 |
| G01Q 60/22,111 | ・・・プローブの製造 | 2010年11月 |
| G01Q 60/24 | ・ＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＡＦＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/26 | ・・摩擦力顕微鏡法［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/28 | ・・凝着力顕微鏡法［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/30 | ・・走査型ポテンシャル顕微鏡法［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/32 | ・・ＡＣモード［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/34 | ・・・タッピングモード［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/36 | ・・ＤＣモード［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/38 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/38,101 | ・・・プローブの特性 | 2010年11月 |
| G01Q 60/38,111 | ・・・プローブの製造 | 2010年11月 |
| G01Q 60/40 | ・・・導電性プローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/42 | ・・・機能化［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/44 | ・ＳＩＣＭ［走査型イオンコンダクタンス顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＩＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/44,101 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー | 2010年11月 |
| G01Q 60/46 | ・ＳＣＭ［走査型キャパシタンス顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/48 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/50 | ・ＭＦＭ［磁気力顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＭＦＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/52 | ・・磁気共鳴［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/54 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/54,101 | ・・・プローブの特性 | 2010年11月 |
| G01Q 60/54,111 | ・・・プローブの製造 | 2010年11月 |
| G01Q 60/56 | ・・・磁気コーティングされたプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/58 | ・ＳＴｈＭ［走査型熱顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＴｈＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/60 | ・ＳＥＣＭ［走査型電気化学顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＥＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 60/60,101 | ・・プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー | 2010年11月 |
| G01Q 70/00 | ＳＰＭプローブの一般的観点またはその製造または関連する器具類で，グループＧ０１Ｑ６０／００に包含される単一のＳＰＭ技術に特に適合していないもの［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/02 | ・プローブホルダー［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/04 | ・・温度・震動に誘引されたエラーの補償のあるもの［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/06 | ・プローブチップアレイ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/08 | ・プローブの特性［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/10 | ・・形状またはテーパ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/12 | ・・・ナノチューブチップ［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/14 | ・・特定の物質［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/16 | ・プローブの製造［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 70/18 | ・・機能化［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 80/00 | ＳＰＭを除く走査プローブ技術の応用（マイクロ構造の製造または処理Ｂ８１Ｃ；ナノ構造物の製造または処理Ｂ８２Ｂ３／００；近接場相互作用を用いる情報の記録と再生Ｇ１１Ｂ９／１２，Ｇ１１Ｂ１１／２４，Ｇ１１Ｂ１３／０８）［２０１０．０１］ | 2010年11月 |
| G01Q 80/00,101 | ・情報記録装置への適用 | 2010年11月 |
| G01Q 80/00,111 | ・表面加工への適用 | 2010年11月 |
| G01Q 80/00,121 | ・生物試料への適用 | 2010年11月 |
| G01Q 90/00 | 他に分類されない走査プローブ技術または装置［２０１０．０１］ | 2010年11月 |