FI (注)/(索引)一覧

（１）このクラスは“真”の測定計器のほかに類似構造の他の指示表示装置又は記録装置を含み，また更に，信号化装置又は制御装置についてはそれが測定に関するものであって（以下の注（２）で定義するように）特定の信号化目的または特定の制御目的に特に適合しないものである限り，含まれる。
（２）このクラスにおいては，下記の用語は以下に示す意味で用いる：
―“測定”はその第一義的意味又は基本的な意味よりもかなり広い意味を含むものとして用いる。この語の第一義的な意味においては，変量値を単位もしくはデータに関して又は同じ性質の別の変量に関して数値的に表現することを見い出すこと，例えば長さをスケールで測定するなどある長さを別の長さの表現で表わすこと，を意味する。この変量値は直接的に得る（すぐ前で言及したように）こともあり，また，水銀柱の長さの変化を測定することにより温度変化を測定するなど求める変量値に関連づけることのできる他の変量値を測定することよって得ることもある。しかしながら，同じ装置又は計器が，直接的な表示を行う代りに，記録をとったり，指示効果又は制御効果を奏すべく信号を発生するために用いられたり，或いは，他の装置又は計器と組み合わせて同種又は異種の二以上の変量の測定から一つのまとまった結果を得るために用いられることもあるので，“測定”はかかる数値的表現を変量を数値に変換する何らかの手段の付加的使用によって得ることを可能とするような操作をも含むものとして解釈することが必要である。従って，数値での表現は実際的にはデジタル的表現によって行なうこともありスケールを読むことによって行なうこともあり，また，その指示は数値を用いないで，例えば測定されている変量が特性又は状態であるところの実在物（例．物体，物質，光ビーム）について感知し得る何らかの特性（変量）によって又はそのような特性に類似するもの（例．スケールをもたない部材の対応位置，何らかの手段によって発生される対応電圧）によって，与えられることがある。
また，上記のような変量値指示が行なわれずに単に基準又はデータ（その値は数値的に既知のこともあり未知のこともある）に関しての異同を示すだけのことも多くある。この基準又はデータは同一性質であるが異なる実在物（例．標準器）の値のこともあり，或いは異なる時点での同一実在物の値であることもある。その最も単純な形態においては，測定は単にある状態又は性質，例えば運動（いずれかの方向又は特定の方向における）の有無を指示するだけのこともあるし，また，変量が既定値を超えるかどうかを指示するだけのこともある。（３）“マイクロ構造の装置”および“マイクロ構造のシステム”に関する，クラスＢ８１およびサブクラスＢ８１Ｂの両タイトルの後の注に注意すること。［７］（４）セクションＧのタイトルに続く注，特に“変量”という用語の定義については注意はすること。（５）多くの測定装置において，測定すべき第一の変量は第二の変量またはさらなる変量に変換される。第二の変量またはさらなる変量は，第一の変量に関係して構成部材に生じた状態，または構成部材の変位であるかもしれない。そして，さらに変換が必要となるかもしれない。［６］このような装置を分類するときは，（ｉ）重要である特定の変換ステップ，または重要である個々の変換ステップを分類するか，または（ｉｉ）全体としてのシステムのみが重要な場合は，第一の変量を該当する箇所に分類する。［６］これは２つ以上の変換が起こる場合に特に重要である。たとえば，第一の変量（例．圧力）が第二の変量（例．感知体の光学的特性）に変換され，さらにその第二の変量が第三の変量（例．電気的効果）で示されるような場合である。このような場合には，次の分類箇所を考慮しなければならない：第一の変量の変換についての分類場所，その変量により生じた状態を感知することについての分類場所，測定を示すＧ０１Ｄ，そして最後に，該当する場合は，システム全体を分類する場所である。［６］（６）物理的特性の値の変化の測定は，その物理的特性の測定と同一のサブクラスに分類する。例えば，長さの伸びの測定はサブクラスＧ０１Ｂに分類する。